描述了加快FLASH存儲器的測試速度,提高測試準(zhǔn)確性,降低測試成本的方法。以基本測試原理,分析各種測試方式,包括查詢方式、最大頁容量方式、高電壓寫數(shù)據(jù)方式、并行操作方式等,復(fù)雜程度不同,故障覆蓋率也不同,要在測試時間,故障覆蓋率,測試成本間進行折衷。 

【文章來源】：電子制作. 2020,(18)

【文章頁數(shù)】：2 頁

【文章目錄】：
1 FLASH存儲器的特點
2 提高測試速度的方法
3 提高測試準(zhǔn)確性的方法
    (1)棋盤格法
    (2)奇偶校驗法
    (3)同步法
    (4)地址跳變法
4 測試方法的綜合使用


【參考文獻】：
期刊論文
[1]領(lǐng)跑于世界前沿的存儲器測試技術(shù)[J]. 王春宇.  中國集成電路. 2006(03)
[2]存儲器的測試技術(shù)[J]. 王健,李金鳳,邊福強,劉歡.  計量與測試技術(shù). 2005(04)
[3]嵌入式存儲器測試方法研究[J]. 李金鳳,曹順,汪瀅.  計量與測試技術(shù). 2004(12)



本文編號：3521670