描述了加快FLASH存儲(chǔ)器的測(cè)試速度,提高測(cè)試準(zhǔn)確性,降低測(cè)試成本的方法。以基本測(cè)試原理,分析各種測(cè)試方式,包括查詢方式、最大頁容量方式、高電壓寫數(shù)據(jù)方式、并行操作方式等,復(fù)雜程度不同,故障覆蓋率也不同,要在測(cè)試時(shí)間,故障覆蓋率,測(cè)試成本間進(jìn)行折衷。 

【文章來源】：電子制作. 2020,(18)

【文章頁數(shù)】：2 頁

【文章目錄】：
1 FLASH存儲(chǔ)器的特點(diǎn)
2 提高測(cè)試速度的方法
3 提高測(cè)試準(zhǔn)確性的方法
    (1)棋盤格法
    (2)奇偶校驗(yàn)法
    (3)同步法
    (4)地址跳變法
4 測(cè)試方法的綜合使用


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]領(lǐng)跑于世界前沿的存儲(chǔ)器測(cè)試技術(shù)[J]. 王春宇.  中國集成電路. 2006(03)
[2]存儲(chǔ)器的測(cè)試技術(shù)[J]. 王健,李金鳳,邊福強(qiáng),劉歡.  計(jì)量與測(cè)試技術(shù). 2005(04)
[3]嵌入式存儲(chǔ)器測(cè)試方法研究[J]. 李金鳳,曹順,汪瀅.  計(jì)量與測(cè)試技術(shù). 2004(12)



本文編號(hào)：3521670