基于V93000的異步雙端口靜態(tài)存儲器測試研究
發(fā)布時間:2021-10-18 14:21
隨著計(jì)算機(jī)應(yīng)用領(lǐng)域的不斷發(fā)展,處理的信息量越來越多,對存儲器的工作速度和容量要求也越來越高,異步雙端口靜態(tài)存儲器在高速多處理系統(tǒng)中廣泛應(yīng)用。因此,研究異步雙端口靜態(tài)存儲器測試具有十分重要意義。該文以IDT公司的IDT70V631S高速256K*18異步雙端口靜態(tài)存儲器器件為例,介紹了異步雙端口靜態(tài)存儲器的基本工作原理,闡述了基于V93000測試系統(tǒng)的MTP軟件生成測試向量的方法,從而更高效、簡便地對異步雙端口靜態(tài)存儲器進(jìn)行評價。
【文章來源】:電子質(zhì)量. 2020,(10)
【文章頁數(shù)】:7 頁
【部分圖文】:
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IDT70V631S器件是一款異步雙端口靜態(tài)存儲器器件,它具有兩組相互獨(dú)立的讀寫控制線路,實(shí)現(xiàn)了對內(nèi)存任何地址獨(dú)立的、異步的讀寫。IDT70V631S器件由存儲單元和每個端口獨(dú)立的地址譯碼器、讀寫時序控制電路、仲裁控制電路等組成,并通過兩條地址線、兩條數(shù)據(jù)線、兩條讀寫線、兩條芯片使能線和電源線與外部連接。其中每個端口都可以有只讀端口、只寫端口或讀寫端口。存儲單元的端口為雙向讀寫端口時,可以同時對該存儲單元進(jìn)行讀操作、寫操作或讀寫操作,比單向讀寫端口更加復(fù)雜,IDT70V631S功能框圖如圖1所示。1.2 讀寫功能工作原理
程序文件采用C_like的MTL程序語言來編寫存儲器測試的各種測試向量。如果要實(shí)現(xiàn)全地址的全0碼、全1碼、55AA碼、AA55碼等測試碼就可以在程序文件中利用for循環(huán)語句、IF判斷語句使相應(yīng)位置置0、置1。程序文件如圖3所示。2.3 器件存取文件(.dvac)
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]基于V93000系統(tǒng)的高速Q(mào)DR SRAM存儲器測試方法[J]. 王征宇,馬錫春. 電子質(zhì)量. 2019(12)
[2]愛德萬測試V93000和T200[J]. 葉雷. 電子產(chǎn)品世界. 2015(10)
[3]SRAM存儲器動態(tài)參數(shù)測試向量分析[J]. 張吉,羅喜明,王軍,唐力,張一波. 電子與封裝. 2015(05)
[4]雙端口靜態(tài)存儲器測試方法研究[J]. 李盛杰,張碚,顧穎. 計(jì)算機(jī)與數(shù)字工程. 2015(01)
[5]IC測試原理-存儲器和邏輯芯片的測試[J]. 許偉達(dá). 半導(dǎo)體技術(shù). 2006(05)
本文編號:3442952
【文章來源】:電子質(zhì)量. 2020,(10)
【文章頁數(shù)】:7 頁
【部分圖文】:
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IDT70V631S器件是一款異步雙端口靜態(tài)存儲器器件,它具有兩組相互獨(dú)立的讀寫控制線路,實(shí)現(xiàn)了對內(nèi)存任何地址獨(dú)立的、異步的讀寫。IDT70V631S器件由存儲單元和每個端口獨(dú)立的地址譯碼器、讀寫時序控制電路、仲裁控制電路等組成,并通過兩條地址線、兩條數(shù)據(jù)線、兩條讀寫線、兩條芯片使能線和電源線與外部連接。其中每個端口都可以有只讀端口、只寫端口或讀寫端口。存儲單元的端口為雙向讀寫端口時,可以同時對該存儲單元進(jìn)行讀操作、寫操作或讀寫操作,比單向讀寫端口更加復(fù)雜,IDT70V631S功能框圖如圖1所示。1.2 讀寫功能工作原理
程序文件采用C_like的MTL程序語言來編寫存儲器測試的各種測試向量。如果要實(shí)現(xiàn)全地址的全0碼、全1碼、55AA碼、AA55碼等測試碼就可以在程序文件中利用for循環(huán)語句、IF判斷語句使相應(yīng)位置置0、置1。程序文件如圖3所示。2.3 器件存取文件(.dvac)
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]基于V93000系統(tǒng)的高速Q(mào)DR SRAM存儲器測試方法[J]. 王征宇,馬錫春. 電子質(zhì)量. 2019(12)
[2]愛德萬測試V93000和T200[J]. 葉雷. 電子產(chǎn)品世界. 2015(10)
[3]SRAM存儲器動態(tài)參數(shù)測試向量分析[J]. 張吉,羅喜明,王軍,唐力,張一波. 電子與封裝. 2015(05)
[4]雙端口靜態(tài)存儲器測試方法研究[J]. 李盛杰,張碚,顧穎. 計(jì)算機(jī)與數(shù)字工程. 2015(01)
[5]IC測試原理-存儲器和邏輯芯片的測試[J]. 許偉達(dá). 半導(dǎo)體技術(shù). 2006(05)
本文編號:3442952
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