發(fā)布時間：2021-08-14 02:38

　　近年來,隨著計算機、微電子、通信及網(wǎng)絡技術、信息技術的發(fā)展、數(shù)字化產(chǎn)品的普及,嵌入式系統(tǒng)滲透到了各個領域,已經(jīng)成為計算機領域的一個重要組成部分,成為新興的研究熱點,嵌入式軟件也在整個軟件產(chǎn)業(yè)中占據(jù)了重要地位。一個好的調(diào)試工具對軟件產(chǎn)品質(zhì)量和開發(fā)周期的促進作用是不言而喻的,使得嵌入式調(diào)試工具成為了人們關注的重點。目前使用集成開發(fā)環(huán)境配合JTAG調(diào)試器進行開發(fā)是目前采用最多的一種嵌入式軟件開發(fā)調(diào)試方式。國內(nèi)在JTAG調(diào)試器開發(fā)領域中相對落后,普遍采用的是國外的工具產(chǎn)品。因此開發(fā)功能強大的嵌入式調(diào)試系統(tǒng)具有重要的實際意義。當前嵌入式系統(tǒng)中尤其流行和值得關注的是ARM系列的嵌入式處理器。為此本課題的目標就是設計并實現(xiàn)一個應用于ARM平臺的JTAG調(diào)試系統(tǒng)。GDB是一個源碼開放的功能強大的調(diào)試器,可以調(diào)試各種程序,包括C、C++、JAVA、PASCAL、FORAN和一些其它的語言,還包括GNU所支持的所有微處理器的匯編語言。此外GDB同目標板交換信息的能力相當強,勝過絕大多數(shù)的商業(yè)調(diào)試內(nèi)核,因此使用GDB不僅能夠保證強大的調(diào)試功能,同時可以降低調(diào)試系統(tǒng)的開發(fā)成本。為此本課題在對邊界掃描協(xié)議、AR... 

【文章來源】：中國海洋大學山東省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：59 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

JTAG控制器結構示意圖

另外對于特定的芯片而言，芯片廠商都會在IEEE 1149.1的基礎上擴充一些私有的指令寄存器和數(shù)據(jù)寄存器以幫助在開發(fā)過程中進行方便的測試和調(diào)試。在由指令寄存器選擇某個特定的數(shù)據(jù)寄存器作為邊界掃描測試寄存器，當一個掃描路徑選定后，其它的路徑處于高阻態(tài)。2.3 JTAG TAP 控制器狀態(tài)機

圖 3-2EmbeddedICE 邏輯單元3.2.2 EmbeddedICE-RT中的寄存器EmbeddeICE邏輯單元中不同的寄存器有不同的長度，而且被分配了一個長度為5的地址。 Debug Control Register： 調(diào)試控制寄存器是用來控制調(diào)試的，地址為00000。Debug Control寄存器的格式如圖3-3所示。圖3-3 調(diào)試控制寄存器格式圖


本文編號：3341602