基于ARM芯片的嵌入式調試系統的研究與實現
發(fā)布時間:2021-08-14 02:38
近年來,隨著計算機、微電子、通信及網絡技術、信息技術的發(fā)展、數字化產品的普及,嵌入式系統滲透到了各個領域,已經成為計算機領域的一個重要組成部分,成為新興的研究熱點,嵌入式軟件也在整個軟件產業(yè)中占據了重要地位。一個好的調試工具對軟件產品質量和開發(fā)周期的促進作用是不言而喻的,使得嵌入式調試工具成為了人們關注的重點。目前使用集成開發(fā)環(huán)境配合JTAG調試器進行開發(fā)是目前采用最多的一種嵌入式軟件開發(fā)調試方式。國內在JTAG調試器開發(fā)領域中相對落后,普遍采用的是國外的工具產品。因此開發(fā)功能強大的嵌入式調試系統具有重要的實際意義。當前嵌入式系統中尤其流行和值得關注的是ARM系列的嵌入式處理器。為此本課題的目標就是設計并實現一個應用于ARM平臺的JTAG調試系統。GDB是一個源碼開放的功能強大的調試器,可以調試各種程序,包括C、C++、JAVA、PASCAL、FORAN和一些其它的語言,還包括GNU所支持的所有微處理器的匯編語言。此外GDB同目標板交換信息的能力相當強,勝過絕大多數的商業(yè)調試內核,因此使用GDB不僅能夠保證強大的調試功能,同時可以降低調試系統的開發(fā)成本。為此本課題在對邊界掃描協議、AR...
【文章來源】:中國海洋大學山東省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數】:59 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
JTAG控制器結構示意圖
另外對于特定的芯片而言,芯片廠商都會在IEEE 1149.1的基礎上擴充一些私有的指令寄存器和數據寄存器以幫助在開發(fā)過程中進行方便的測試和調試。在由指令寄存器選擇某個特定的數據寄存器作為邊界掃描測試寄存器,當一個掃描路徑選定后,其它的路徑處于高阻態(tài)。2.3 JTAG TAP 控制器狀態(tài)機
圖 3-2EmbeddedICE 邏輯單元3.2.2 EmbeddedICE-RT中的寄存器EmbeddeICE邏輯單元中不同的寄存器有不同的長度,而且被分配了一個長度為5的地址。 Debug Control Register: 調試控制寄存器是用來控制調試的,地址為00000。Debug Control寄存器的格式如圖3-3所示。圖3-3 調試控制寄存器格式圖
本文編號:3341602
【文章來源】:中國海洋大學山東省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數】:59 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
JTAG控制器結構示意圖
另外對于特定的芯片而言,芯片廠商都會在IEEE 1149.1的基礎上擴充一些私有的指令寄存器和數據寄存器以幫助在開發(fā)過程中進行方便的測試和調試。在由指令寄存器選擇某個特定的數據寄存器作為邊界掃描測試寄存器,當一個掃描路徑選定后,其它的路徑處于高阻態(tài)。2.3 JTAG TAP 控制器狀態(tài)機
圖 3-2EmbeddedICE 邏輯單元3.2.2 EmbeddedICE-RT中的寄存器EmbeddeICE邏輯單元中不同的寄存器有不同的長度,而且被分配了一個長度為5的地址。 Debug Control Register: 調試控制寄存器是用來控制調試的,地址為00000。Debug Control寄存器的格式如圖3-3所示。圖3-3 調試控制寄存器格式圖
本文編號:3341602
本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/jisuanjikexuelunwen/3341602.html