隨著集成電路技術(shù)得到了飛速的發(fā)展,單一硅片上能夠集成上億個(gè)晶體管,這樣就使原來有多個(gè)芯片協(xié)作才能實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜系統(tǒng),通過單一芯片就可實(shí)現(xiàn),即通常所說的片上系統(tǒng)（System on a Chip, SoC）。然而,片上系統(tǒng)的片內(nèi)晶體管的密集性,使其更容易在設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過程中出現(xiàn)故障。嵌入式存儲器在片上系統(tǒng)中所占面積最大,使其與其他邏輯功能電路相比更容易出現(xiàn)故障,這使得對嵌入式存儲器的測試顯得尤為重要。本課題針對嵌入式存儲器的可測性結(jié)構(gòu)和測試算法進(jìn)行了深入的研究。本文對可測性設(shè)計(jì)基本概念及其分類進(jìn)行了介紹和分析,對嵌入式存儲器的可測性設(shè)計(jì)進(jìn)行了探討。此后,對嵌入式存儲器的結(jié)構(gòu),類型進(jìn)行了詳細(xì)的介紹,并分析了存儲器的故障模型。在存儲器測試算法方面,本文主要對存儲器測試領(lǐng)域主流的March算法以及其衍生算法進(jìn)行了介紹和分析,并對其進(jìn)行了仿真驗(yàn)證。針對嵌入式存儲器的可測性設(shè)計(jì),本文應(yīng)用March算法作為存儲器測試算法,設(shè)計(jì)了嵌入式存儲器內(nèi)建自測試電路結(jié)構(gòu),并在Modelsim仿真軟件中對應(yīng)用Verilog語言編寫的存儲器內(nèi)建自測試各模塊進(jìn)行了仿真測試。最后,針對片上系統(tǒng)中存儲器數(shù)量較多,為實(shí)現(xiàn)對存儲器... 

【文章來源】：哈爾濱工業(yè)大學(xué)黑龍江省 211工程院校 985工程院校

【文章頁數(shù)】：62 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

存儲器結(jié)構(gòu)圖

無故障存儲單元操作狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖

可能在邏輯上毫不相干，這使得橋接故障很難進(jìn)行包括零歐姆橋接故障、電阻性橋接故障和二極管橋接故障將導(dǎo)致兩個(gè)存儲單元間邏輯值相互影響，一引起另一個(gè)存儲單元邏輯值的改變。兩存儲單元 i,換圖如圖 2-7 所示。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]存儲器并行測試方法[J]. 高劍.  電子測試. 2009(02)
[2]基于MBIST的多片SRAM聯(lián)合測試實(shí)現(xiàn)[J]. 劉學(xué)勇,李曉江,馬成炎.  電子器件. 2008(05)
[3]SOC的可測性設(shè)計(jì)策略[J]. 徐智偉,張盛兵.  計(jì)算機(jī)測量與控制. 2008(08)
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碩士論文
[1]基于BIST的嵌入式存儲器可測性設(shè)計(jì)研究[D]. 徐金榮.北京交通大學(xué) 2008
[2]基于BIST的嵌入式存儲器可測性設(shè)計(jì)算法研究[D]. 姚俊.哈爾濱工程大學(xué) 2007
[3]靜態(tài)隨機(jī)存取存儲器IP核全定制設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D]. 劉婷.國防科學(xué)技術(shù)大學(xué) 2006
[4]嵌入式memory內(nèi)建自測試算法[D]. 任愛玲.東南大學(xué) 2005



本文編號：3304085