基于SWP接口的NFC-SIM芯片的測試方法及驗證
發(fā)布時間:2017-04-27 01:01
本文關(guān)鍵詞:基于SWP接口的NFC-SIM芯片的測試方法及驗證,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
【摘要】:近年來支持近場通訊功能的智能終端發(fā)展迅速,由于其天然安全性,,近場通訊已成為移動支付的主流技術(shù)。采用近場通訊的移動支付在接觸端都是以單線傳輸接口為通訊接口;做為一種新的接口技術(shù),單線傳輸接口自2007被標準化以后得到了長足的發(fā)展,可以預(yù)見單線傳輸技術(shù)在未來必定會有更廣闊的應(yīng)用,有極高的商業(yè)價值。 本文介紹了NFC-SIM的優(yōu)缺點以及NFC在手機通信的具體實現(xiàn)手段,即單線傳輸協(xié)議。并依據(jù)芯片的架構(gòu)和單線傳輸接口測試協(xié)議的要求給出了測試平臺的搭建方案,包括從ADS到Keil4的測試軟件平臺移植、測試函數(shù)的補充和優(yōu)化以及基于MP300的標準化硬件測試平臺。測試驗證工作從基礎(chǔ)通訊接口SCI7816和UART接口開始,在保證芯片基本功能正確性的基礎(chǔ)上再進行了存儲器功能以及可靠性測試,包括多次擦寫等,以驗證芯片整體的穩(wěn)定性。針對單線傳輸接口進行了詳細的測試,包括電氣性能的和功能模塊以及SWP-HCI協(xié)議系統(tǒng)程序的失效分析。相關(guān)的測試結(jié)果表明基于SWP接口的NFC-SIM芯片可勝任商用領(lǐng)域的需求。
【關(guān)鍵詞】:近場通訊 單線傳輸協(xié)議 自動化測試 標準流程
【學位授予單位】:西安電子科技大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2014
【分類號】:TP391.44;TP334.7
【目錄】:
- 摘要3-4
- Abstract4-7
- 第一章 緒論7-11
- 1.1 研究背景和意義7
- 1.2 移動支付7-8
- 1.3 手機支付的幾種終端解決方案8-9
- 1.4 NFC 技術(shù)概述9-10
- 1.5 本文的內(nèi)容安排10-11
- 第二章 SWP 協(xié)議11-19
- 2.1 SWP 協(xié)議概述11-12
- 2.2 SWP 電氣規(guī)范及編碼規(guī)則12-13
- 2.2.1 S1 信號編碼12-13
- 2.2.2 S2 信號編碼13
- 2.3 SWP 數(shù)據(jù)鏈路層規(guī)范13-17
- 2.3.1 MAC 層介紹14-15
- 2.3.2 LLC 層介紹15-17
- 2.4 本章小結(jié)17-19
- 第三章 芯片測試的軟硬件平臺搭建19-31
- 3.1 芯片架構(gòu)介紹19
- 3.2 SWP 接口框架19-21
- 3.3 硬件平臺構(gòu)建21-23
- 3.4 軟件平臺搭建23-30
- 3.4.1 工程移植24-27
- 3.4.2 軟件系統(tǒng)架構(gòu)27-28
- 3.4.3 功能函數(shù)介紹28-30
- 3.5 本章小結(jié)30-31
- 第四章 NFC-SIM 的驗證測試31-65
- 4.1 串行接口通訊模塊的驗證測試31-37
- 4.1.1 SCI7816 測試31-35
- 4.1.2 UART 測試35-37
- 4.2 存儲器的測試驗證37-42
- 4.2.1 flash 存儲器的基本結(jié)構(gòu)37-38
- 4.2.2 nor-flash 的測試38-42
- 4.3 SWP 模塊測試42-56
- 4.3.1 SWP 模塊電氣特性測試42-49
- 4.3.2 SWP 模塊時序以及功能測試49-56
- 4.4 基于 SWP-HCI 的協(xié)議棧系統(tǒng)的 RNR 幀失效分析56-63
- 4.5 本章小結(jié)63-65
- 第五章 工作總結(jié)65-67
- 致謝67-69
- 參考文獻69-71
【參考文獻】
中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前1條
1 師群昌;帥青紅;;移動支付及其在中國發(fā)展探析[J];電子商務(wù);2009年02期
本文關(guān)鍵詞:基于SWP接口的NFC-SIM芯片的測試方法及驗證,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
本文編號:329553
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