發(fā)布時(shí)間：2021-07-18 08:34

　　本文主要解決單片機(jī)軟件測(cè)試過程中單元測(cè)試效率低以及功能測(cè)試不夠靈活的問題。通過LabVIEW軟件開發(fā)測(cè)試程序,在單片機(jī)軟件中增加測(cè)試接口,兩者配合就可以實(shí)現(xiàn)函數(shù)級(jí)別的暴力窮舉測(cè)試,以及支持?jǐn)帱c(diǎn)和追蹤的功能測(cè)試。本文提供了該測(cè)試系統(tǒng)的主要設(shè)計(jì)思路和關(guān)鍵部分的實(shí)現(xiàn)步驟,具有一定可行性和先進(jìn)性。 

【文章來源】：?jiǎn)纹瑱C(jī)與嵌入式系統(tǒng)應(yīng)用. 2020,20(08)

【文章頁數(shù)】：3 頁

【部分圖文】：

LabVIEW函數(shù)級(jí)測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖

單片機(jī)的每個(gè)函數(shù)全都在LabVIEW上通過了參數(shù)有效范圍內(nèi)的暴力測(cè)試后，就可以進(jìn)行包括一連串函數(shù)調(diào)用的功能測(cè)試了。具體過程如下：圖3 LabVIEW函數(shù)級(jí)單元測(cè)試流程圖

LabVIEW函數(shù)級(jí)單元測(cè)試流程圖

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]基于目標(biāo)可信性的可信軟件測(cè)試過程[J]. 郭曉天,繩偉光,毛志剛.  微電子學(xué)與計(jì)算機(jī). 2015(07)
[2]軟件測(cè)試技術(shù)與自動(dòng)化測(cè)試框架模型的研究與應(yīng)用[J]. 劉騰.  電腦知識(shí)與技術(shù). 2009(26)



本文編號(hào)：3289229