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40nm高性能TPSRAM的設(shè)計與實現(xiàn)

發(fā)布時間:2017-04-26 06:07

  本文關(guān)鍵詞:40nm高性能TPSRAM的設(shè)計與實現(xiàn),由筆耕文化傳播整理發(fā)布。


【摘要】:在高性能微處理器中,SRAM存儲器主要用于系統(tǒng)高速緩存。微處理器所需指令和數(shù)據(jù)首先存儲在第一級高速緩存,第一級緩存的SRAM存儲器,要求具有很快的速度,存儲容量不需要太大。針對第一級高速緩存的性能需要,進行小容量高性能TPSRAM設(shè)計,TPSRAM是指以8管SRAM存儲單元進行設(shè)計的存儲器。TPSRAM在多款YHFT-X DSP芯片中應(yīng)用,并且能夠滿足1G Hz的頻率要求。存儲器高性能體現(xiàn)在電路設(shè)計和版圖設(shè)計兩個方面,分成時鐘模塊、鎖存模塊、譯碼模塊、存儲模塊和IO模塊等五個模塊分別進行設(shè)計。本文的設(shè)計體現(xiàn)在電路設(shè)計和版圖設(shè)計兩個層面上:1)存儲器電路設(shè)計在時鐘模塊,使用門控邏輯單元產(chǎn)生門控時鐘,減少時鐘不必要翻轉(zhuǎn)從而減少電路的功耗損失。讀門控時鐘后接一個窄脈沖產(chǎn)生電路,窄脈沖在能正確鎖存GRBL(最終讀出位線)基礎(chǔ)上,將窄脈沖寬度調(diào)整到足夠大,既可減少窄脈沖電路的延時單元使用而減小電路面積,又可減少GRBL通過觸發(fā)器的延時而減小路徑延時。在譯碼模塊,由于定制存儲器的規(guī)格容量小,使用靜態(tài)CMOS邏輯的二級譯碼電路進行譯碼,會比動態(tài)譯碼電路具有更高穩(wěn)定性和更低的功耗,同時譯碼速度也較快。在存儲模塊,存儲陣列的存儲單元由8管SRAM單元組成,8管SRAM單元在40nm工藝比傳統(tǒng)6管SRAM單元的穩(wěn)定性、漏電流、功耗和延時等方面都具有優(yōu)勢,對存儲器整體的電路設(shè)計性能的提高起到重要作用。在IO模塊,采用動態(tài)預(yù)充的方式,分兩條路徑將讀出0和讀出1傳送到GRBL,然后使用窄脈沖SR觸發(fā)器對GRBL進行鎖存,該部分電路具有速度快、穩(wěn)定性好和面積小等特點。2)存儲器版圖設(shè)計存儲器版圖的整體布局布線,采用鏡像式左右對稱的布局規(guī)劃和布線設(shè)計,布局更加合理緊密,布線有效長度更短,有助于提高版圖物理實現(xiàn)時的速度和穩(wěn)定性,有利于降低版圖的面積。對存儲器的性能進行分析,了解存儲器內(nèi)部性能情況,然后與編譯器存儲器設(shè)計和半定制存儲器設(shè)計進行對比。通過比較發(fā)現(xiàn),全定制設(shè)計比半定制存儲器設(shè)計的面積小74%,時序小18%,功耗小35%;比編譯器存儲器設(shè)計的面積小40%,時序小21%,功耗小55%。
【關(guān)鍵詞】:8管SRAM單元 SRAM電路設(shè)計 SRAM版圖設(shè)計 SRAM性能分析
【學位授予單位】:國防科學技術(shù)大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2014
【分類號】:TP333
【目錄】:
  • 摘要9-10
  • ABSTRACT10-12
  • 第一章 緒論12-18
  • 1.1 研究背景12-15
  • 1.1.1 SRAM的應(yīng)用領(lǐng)域12-13
  • 1.1.2 SRAM的發(fā)展趨勢13-14
  • 1.1.3 SRAM的存在問題14-15
  • 1.2 研究現(xiàn)狀15
  • 1.3 課題研究15-17
  • 1.3.1 存儲單元電路設(shè)計15-16
  • 1.3.2 地址譯碼電路設(shè)計16
  • 1.3.3 輸入輸出電路設(shè)計16
  • 1.3.4 脈沖鎖存電路設(shè)計16
  • 1.3.5 版圖布局布線設(shè)計16-17
  • 1.4 論文章節(jié)17-18
  • 第二章 存儲器電路設(shè)計18-33
  • 2.1 電路整體結(jié)構(gòu)18-20
  • 2.1.1 SRAM存儲器通用整體結(jié)構(gòu)18-19
  • 2.1.2 TPSRAM存儲器的整體結(jié)構(gòu)19-20
  • 2.2 電路分體結(jié)構(gòu)20-32
  • 2.2.1 時鐘模塊20-22
  • 2.2.2 鎖存模塊22-24
  • 2.2.3 譯碼模塊24-26
  • 2.2.4 存儲模塊26-28
  • 2.2.5 I O模塊28-32
  • 2.3 本章小結(jié)32-33
  • 第三章 存儲器版圖設(shè)計33-52
  • 3.1 版圖整體設(shè)計33-38
  • 3.1.1 存儲器版圖常用整體布局33-34
  • 3.1.2 存儲器版圖對稱整體設(shè)計34-36
  • 3.1.3 TPSRAM32X32版圖整體布局36-37
  • 3.1.4 TPSRAM32X32版圖整體布線37-38
  • 3.2 版圖分體設(shè)計38-47
  • 3.2.1 存儲陣列版圖設(shè)計38-41
  • 3.2.2 I/O模塊版圖設(shè)計41-44
  • 3.2.4 數(shù)據(jù)鎖存版圖設(shè)計44
  • 3.2.5 譯碼模塊版圖設(shè)計44-46
  • 3.2.6 地址鎖存版圖設(shè)計46-47
  • 3.2.7 時鐘模塊版圖設(shè)計47
  • 3.3 版圖整體效果47-51
  • 3.3.1 版圖布局整體視圖48-49
  • 3.3.2 版圖布線整體視圖49-51
  • 3.4 本章小結(jié)51-52
  • 第四章 存儲器性能分析52-66
  • 4.1 環(huán)境建模52-55
  • 4.1.1 寄生參數(shù)提取52-53
  • 4.1.2 測試激勵編寫53-55
  • 4.2 性能分析55-62
  • 4.2.1 存儲單元性能分析56-58
  • 4.2.2 讀寫策略性能分析58-60
  • 4.2.3 時鐘樹的性能分析60-62
  • 4.2.4 建立保持時間分析62
  • 4.3 性能比較62-65
  • 4.3.1 全定制設(shè)計63
  • 4.3.2 半定制設(shè)計63
  • 4.3.3 編譯器設(shè)計63
  • 4.3.4 結(jié)果的比較63-65
  • 4.4 本章小結(jié)65-66
  • 第五章 結(jié)束語66-69
  • 5.1 全文總結(jié)66-67
  • 5.2 研究展望67-69
  • 致謝69-71
  • 參考文獻71-75
  • 作者在學期間取得的學術(shù)成果75

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  本文關(guān)鍵詞:40nm高性能TPSRAM的設(shè)計與實現(xiàn),,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。



本文編號:327868

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