幾乎所有的移動(dòng)終端都會(huì)帶有卡接口,常用的有SIM卡和T卡（Micro SD卡）,用以存儲(chǔ)網(wǎng)絡(luò)參數(shù)和用戶數(shù)據(jù),如果設(shè)計(jì)中沒(méi)有充分考慮,卡接口設(shè)計(jì)的可靠性,一旦出現(xiàn)燒卡問(wèn)題,就會(huì)使得終端散失通訊功能或者用戶數(shù)據(jù)的徹底丟失,因此,此類故障對(duì)用戶來(lái)說(shuō),是致命的。本文詳細(xì)論述了一種由于新卡接口（SIM和T卡三選二卡座）的引入,帶來(lái)的低概率可靠性問(wèn)題,經(jīng)過(guò)反復(fù)實(shí)驗(yàn)與分析,發(fā)現(xiàn)傳統(tǒng)的時(shí)序設(shè)計(jì),沒(méi)有考慮到用戶在新卡接口日常操作場(chǎng)景,從而導(dǎo)致潛在的可靠性風(fēng)險(xiǎn)。最終,通過(guò)優(yōu)化時(shí)序,解決了該問(wèn)題,由此可見(jiàn),工程師在進(jìn)行產(chǎn)品開(kāi)發(fā)中,需要引入場(chǎng)景化設(shè)計(jì)思維。 

【文章來(lái)源】：電子器件. 2020,43(04)北大核心

【文章頁(yè)數(shù)】：6 頁(yè)

【部分圖文】：

三選二卡座實(shí)物圖

為了排查是不是拔卡動(dòng)作引起故障,即插入卡后,手機(jī)上電識(shí)別卡時(shí)時(shí)序錯(cuò)誤導(dǎo)致卡壞。因此,測(cè)量SIM和T卡的上電時(shí)序。但是,時(shí)序符合規(guī)范,沒(méi)有發(fā)現(xiàn)異常情況,如圖2～圖5所示。圖3 RST與CLK信號(hào)時(shí)序

RST與CLK信號(hào)時(shí)序

【參考文獻(xiàn)】：
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本文編號(hào)：3222936