在微納米級(jí)工藝中,嵌入式存儲(chǔ)器出現(xiàn)開(kāi)路故障的概率增高,從而帶來(lái)動(dòng)態(tài)故障。當(dāng)靜態(tài)故障與動(dòng)態(tài)故障同時(shí)存在時(shí),傳統(tǒng)的暫停導(dǎo)出內(nèi)建自測(cè)試設(shè)計(jì)雖然可以將故障診斷數(shù)據(jù)正確輸出,但存在診斷數(shù)據(jù)冗余的問(wèn)題。因此,提出一種動(dòng)態(tài)故障診斷數(shù)據(jù)壓縮的內(nèi)建自測(cè)試設(shè)計(jì)。在不影響診斷數(shù)據(jù)完好性的前提下,識(shí)別故障模式為行故障、列故障與單元故障,并對(duì)其診斷數(shù)據(jù)進(jìn)行壓縮解決診斷數(shù)據(jù)冗余的問(wèn)題。仿真結(jié)果表明,該設(shè)計(jì)能夠正確壓縮動(dòng)態(tài)故障診斷數(shù)據(jù),大幅度提高輸出效率,減少輸出時(shí)間,并且面積開(kāi)銷較小。在8 K×16的存儲(chǔ)器的面積開(kāi)銷為3.16%,20%行列故障與5%動(dòng)態(tài)故障下診斷數(shù)據(jù)壓縮比為3.96%。 

【文章來(lái)源】：電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào). 2020,34(07)北大核心CSCD

【文章頁(yè)數(shù)】：7 頁(yè)

【部分圖文】：

存儲(chǔ)器故障示意圖

BIST流程

改進(jìn)診斷數(shù)據(jù)由4個(gè)部分組成,分別為故障地址、會(huì)話號(hào)、壓縮校正碼和有效位。不同故障模式診斷數(shù)據(jù)構(gòu)成如圖3所示。故障地址、會(huì)話號(hào)與PAE產(chǎn)生的診斷數(shù)據(jù)相同。壓縮校正碼比特?cái)?shù)比PAE產(chǎn)生的校正碼小,這是因?yàn)楸容^壓縮了一些讀操作產(chǎn)生的冗余校正碼。有效位是在多個(gè)讀操作下,標(biāo)志診斷數(shù)據(jù)有效,一般為March元素檢測(cè)出動(dòng)態(tài)故障的第一個(gè)讀操作產(chǎn)生,當(dāng)沒(méi)有檢測(cè)到動(dòng)態(tài)故障時(shí),為檢測(cè)出所有靜態(tài)故障的第一個(gè)讀操作產(chǎn)生。對(duì)于單元故障,該校正碼一般比原始校正碼短。行故障診斷數(shù)據(jù)需要記錄第一個(gè)和最后一個(gè)故障單元地址。由于具有相同的行地址,因此只需要多存儲(chǔ)最后一個(gè)故障單元的列地址。列故障診斷數(shù)據(jù)類似于行故障診斷數(shù)據(jù)。由于所有故障單元都在同一列中,因此只需要多存儲(chǔ)最后一個(gè)故障單元的行地址。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]兼顧熱優(yōu)化的TSV容錯(cuò)設(shè)計(jì)[J]. 張阿敏,王春華,杜高明,李楨旻,馬世碧,曹舒婷.  電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào). 2018(07)
[2]基于時(shí)間Petri網(wǎng)和THBA的3D NoC測(cè)試規(guī)劃[J]. 胡聰,賈夢(mèng)怡,許川佩,朱望純,宋愛(ài)國(guó).  儀器儀表學(xué)報(bào). 2018(01)



本文編號(hào)：3109955