嵌入式系統(tǒng)開發(fā)是當今計算機軟件發(fā)展的一個熱點。嵌入式系統(tǒng)調(diào)試器是進行嵌入式開發(fā)的關鍵工具,常用于對嵌入式軟件的調(diào)試和測試。嵌入式系統(tǒng)調(diào)試器由交叉調(diào)試器和調(diào)試代理組成,其特點在于交叉調(diào)試器和調(diào)試目標的運行環(huán)境相互分離,依賴調(diào)試代理來實現(xiàn)其調(diào)試會話。隨著嵌入式硬件技術的發(fā)展,嵌入式應用的不斷增長以及嵌入式系統(tǒng)復雜性不斷提高,要求嵌入式軟件的規(guī)模和復雜性也不斷提高,嵌入式軟件的質(zhì)量和開發(fā)周期對產(chǎn)品的最終質(zhì)量和上市時間起到?jīng)Q定性的影響,嵌入式軟件調(diào)試工具的效率成為了人們關注的重點。本文詳細介紹了基于DCC和JTAG的ARM硬件仿真調(diào)試器的研究與設計過程。該硬件仿真調(diào)試器除了具有下載、斷點、單步運行、連續(xù)運行、讀寫內(nèi)存區(qū)域和對寄存器操作等基本調(diào)試功能外,還有通過使能DCC通道,來進行快速對目標機內(nèi)存讀寫的功能。因為讀寫內(nèi)存是調(diào)試過程中最常用的功能,這樣就大大地提高了調(diào)試的效率。文中,首先對嵌入式系統(tǒng)開發(fā)和嵌入式調(diào)試器進行了全面的介紹。然后對當前嵌入式調(diào)試中應用最為廣泛的JTAG技術和ARM中的JTAG原理作了詳細介紹。接著對ARM片上調(diào)試原理進行了深入分析。最后,深入闡述了LambdaICE的設... 

【文章來源】：成都理工大學四川省

【文章頁數(shù)】：70 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

邊界掃描測試的內(nèi)部電路結構

--3TAp控制器的狀態(tài)機如圖2一3所示，TAP控制器共有復位、自檢、指令寄存器掃描和數(shù)據(jù)寄存器

lD寄存器的格式圖

【參考文獻】：
期刊論文
[1]嵌入式遠程調(diào)試器的設計與實現(xiàn)[J]. 曾杰,蔣澤軍,王麗芳,張彥明.  計算機測量與控制. 2005(07)
[2]嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)核載入過程淺析[J]. 鄭家玲,張云峰,孫荷琨.  微型機與應用. 2002(11)
[3]嵌入式軟件仿真開發(fā)系統(tǒng)的研究[J]. 陳定君,郭曉東,張應輝,余克清,劉積仁.  電子學報. 2000(03)

碩士論文
[1]嵌入式交叉調(diào)試技術的研究與實現(xiàn)[D]. 魏勇.電子科技大學 2005
[2]嵌入式系統(tǒng)軟件開發(fā)環(huán)境中調(diào)試器的設計與實現(xiàn)[D]. 何先波.四川大學 2001
[3]嵌入式應用交叉調(diào)試器的設計與實現(xiàn)[D]. 尹立孟.電子科技大學 2001



本文編號：3082256