發(fā)布時(shí)間：2021-03-14 13:19

　　嵌入式系統(tǒng)開(kāi)發(fā)是當(dāng)今計(jì)算機(jī)軟件發(fā)展的一個(gè)熱點(diǎn)。嵌入式系統(tǒng)調(diào)試器是進(jìn)行嵌入式開(kāi)發(fā)的關(guān)鍵工具,常用于對(duì)嵌入式軟件的調(diào)試和測(cè)試。嵌入式系統(tǒng)調(diào)試器由交叉調(diào)試器和調(diào)試代理組成,其特點(diǎn)在于交叉調(diào)試器和調(diào)試目標(biāo)的運(yùn)行環(huán)境相互分離,依賴(lài)調(diào)試代理來(lái)實(shí)現(xiàn)其調(diào)試會(huì)話(huà)。隨著嵌入式硬件技術(shù)的發(fā)展,嵌入式應(yīng)用的不斷增長(zhǎng)以及嵌入式系統(tǒng)復(fù)雜性不斷提高,要求嵌入式軟件的規(guī)模和復(fù)雜性也不斷提高,嵌入式軟件的質(zhì)量和開(kāi)發(fā)周期對(duì)產(chǎn)品的最終質(zhì)量和上市時(shí)間起到?jīng)Q定性的影響,嵌入式軟件調(diào)試工具的效率成為了人們關(guān)注的重點(diǎn)。本文詳細(xì)介紹了基于DCC和JTAG的ARM硬件仿真調(diào)試器的研究與設(shè)計(jì)過(guò)程。該硬件仿真調(diào)試器除了具有下載、斷點(diǎn)、單步運(yùn)行、連續(xù)運(yùn)行、讀寫(xiě)內(nèi)存區(qū)域和對(duì)寄存器操作等基本調(diào)試功能外,還有通過(guò)使能DCC通道,來(lái)進(jìn)行快速對(duì)目標(biāo)機(jī)內(nèi)存讀寫(xiě)的功能。因?yàn)樽x寫(xiě)內(nèi)存是調(diào)試過(guò)程中最常用的功能,這樣就大大地提高了調(diào)試的效率。文中,首先對(duì)嵌入式系統(tǒng)開(kāi)發(fā)和嵌入式調(diào)試器進(jìn)行了全面的介紹。然后對(duì)當(dāng)前嵌入式調(diào)試中應(yīng)用最為廣泛的JTAG技術(shù)和ARM中的JTAG原理作了詳細(xì)介紹。接著對(duì)ARM片上調(diào)試原理進(jìn)行了深入分析。最后,深入闡述了LambdaICE的設(shè)... 

【文章來(lái)源】：成都理工大學(xué)四川省

【文章頁(yè)數(shù)】：70 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

邊界掃描測(cè)試的內(nèi)部電路結(jié)構(gòu)

--3TAp控制器的狀態(tài)機(jī)如圖2一3所示，TAP控制器共有復(fù)位、自檢、指令寄存器掃描和數(shù)據(jù)寄存器

lD寄存器的格式圖

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]嵌入式遠(yuǎn)程調(diào)試器的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[J]. 曾杰,蔣澤軍,王麗芳,張彥明.  計(jì)算機(jī)測(cè)量與控制. 2005(07)
[2]嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)核載入過(guò)程淺析[J]. 鄭家玲,張?jiān)品?孫荷琨.  微型機(jī)與應(yīng)用. 2002(11)
[3]嵌入式軟件仿真開(kāi)發(fā)系統(tǒng)的研究[J]. 陳定君,郭曉東,張應(yīng)輝,余克清,劉積仁.  電子學(xué)報(bào). 2000(03)

碩士論文
[1]嵌入式交叉調(diào)試技術(shù)的研究與實(shí)現(xiàn)[D]. 魏勇.電子科技大學(xué) 2005
[2]嵌入式系統(tǒng)軟件開(kāi)發(fā)環(huán)境中調(diào)試器的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D]. 何先波.四川大學(xué) 2001
[3]嵌入式應(yīng)用交叉調(diào)試器的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D]. 尹立孟.電子科技大學(xué) 2001



本文編號(hào)：3082256