本文關(guān)鍵詞：基于XTX模塊的低輻射加固筆記本的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：在今天,戰(zhàn)場電磁環(huán)境變得越來越復(fù)雜,信息技術(shù)在軍事領(lǐng)域應(yīng)用的深化正在給加固計(jì)算機(jī)的研制提出更多的要求,軍用加固計(jì)算機(jī)的電磁加固性能也面臨著更深層次的考驗(yàn),特別是在提高設(shè)備的電磁兼容能力方面,如何降低電子設(shè)備的電磁輻射,已經(jīng)成為當(dāng)前亟待解決的問題。當(dāng)前,在我國現(xiàn)有的軍事裝備中,便攜式加固筆記本占據(jù)著重要的位置。低輻射便攜式加固計(jì)算機(jī)的研制來源于研究所課題任務(wù),從提高電磁兼容性能的應(yīng)用需求出發(fā),設(shè)計(jì)中以XTX模塊作為核心,設(shè)計(jì)擴(kuò)展電路,合理規(guī)劃計(jì)算機(jī)主板的布局布線,避免了采用板卡所帶來的一系列問題。同時(shí)結(jié)合加固設(shè)計(jì),從電氣與結(jié)構(gòu)兩方面著手保證整機(jī)的可靠性。在抑制計(jì)算機(jī)主板的電磁輻射部分,在如下方面進(jìn)行了研究和實(shí)踐：利用傳統(tǒng)的屏蔽技術(shù),結(jié)合信號(hào)完整性(SI)設(shè)計(jì)、電源完整性(PI)設(shè)計(jì),擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘設(shè)計(jì)(SSCG)等新型技術(shù),從源頭上對(duì)電磁輻射進(jìn)行有效抑制,提高了系統(tǒng)的電磁兼容性,從而防止電磁泄漏所帶來的各種安全問題,保證整機(jī)的高安全性。課題要求軍用加固筆記本計(jì)算機(jī)在各類惡劣環(huán)境下保持較高的可靠性和可用性,論文將可靠性設(shè)計(jì)的思想充分融入了整體設(shè)計(jì)過程中。最后,論文對(duì)加固計(jì)算機(jī)進(jìn)行了各種功能試驗(yàn)、電磁輻射試驗(yàn)及性能仿真分析。
【關(guān)鍵詞】：低輻射 XTX 信號(hào)完整性 電源完整性 擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘 可靠性
【學(xué)位授予單位】：中國科學(xué)院大學(xué)(工程管理與信息技術(shù)學(xué)院)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號(hào)】：TJ5;TP368.32
【目錄】：

• 摘要5-6
• ABSTRACT6-10
• 第一章 緒論10-16
• 1.1 研究背景與意義10
• 1.2 國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀10-12
• 1.2.1 加固筆記本設(shè)計(jì)技術(shù)研究現(xiàn)狀10-11
• 1.2.2 加固筆記本電磁安全問題研究現(xiàn)狀11-12
• 1.3 本文主要研究內(nèi)容和章節(jié)安排12-16
• 第二章 主要模塊與相關(guān)技術(shù)介紹16-34
• 2.1 XTX模塊介紹16-19
• 2.2 PCB的電磁兼容設(shè)計(jì)技術(shù)19-21
• 2.2.1 層疊安排與阻抗設(shè)計(jì)19-20
• 2.2.2 PCB布局布線20-21
• 2.3 抑制電磁輻射的設(shè)計(jì)技術(shù)21-28
• 2.3.1 擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘技術(shù)概述22-25
• 2.3.2 屏蔽技術(shù)概述25-28
• 2.4 信號(hào)完整性設(shè)計(jì)28-29
• 2.5 可靠性設(shè)計(jì)29-34
• 2.5.1 可靠性理論概述29-30
• 2.5.2 可靠性設(shè)計(jì)方法30-31
• 2.5.3 可靠性計(jì)算31
• 2.5.4 可靠性預(yù)計(jì)31-34
• 第三章 加固筆記本配置要求與總體設(shè)計(jì)34-48
• 3.1 總體設(shè)計(jì)要求34-35
• 3.1.1 性能及功能配置要求34
• 3.1.2 環(huán)境指標(biāo)要求34-35
• 3.2 總體設(shè)計(jì)思想35-36
• 3.3 主板電路選型36-40
• 3.3.1 加固筆記本配置選型36-37
• 3.3.2 加固筆記本核心設(shè)備性能分析37-40
• 3.4 加固筆記本主板設(shè)計(jì)40-47
• 3.4.1 加固筆記本系統(tǒng)互聯(lián)圖40-41
• 3.4.2 電源電路設(shè)計(jì)41-42
• 3.4.3 網(wǎng)口電路設(shè)計(jì)42-43
• 3.4.4 串口電路設(shè)計(jì)43-44
• 3.4.5 USB接口設(shè)計(jì)44
• 3.4.6 SATA接口設(shè)計(jì)44-45
• 3.4.7 鍵盤控制電路設(shè)計(jì)45
• 3.4.8 音頻電路設(shè)計(jì)45-46
• 3.4.9 LVDS接口電路設(shè)計(jì)46-47
• 3.5 本章小結(jié)47-48
• 第四章 加固筆記本的低輻射PCB設(shè)計(jì)48-70
• 4.1 自研加固筆記本PCB層疊結(jié)構(gòu)48-49
• 4.2 自研加固筆記本PCB地層設(shè)計(jì)49-50
• 4.3 PCB布局設(shè)計(jì)50-52
• 4.4 PCB布線設(shè)計(jì)52-54
• 4.5 PCB的電磁兼容仿真分析54-70
• 4.5.1 信號(hào)完整性分析54-57
• 4.5.2 電源完整性設(shè)計(jì)57-65
• 4.5.3 關(guān)鍵技術(shù)實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)65-70
• 第五章 加固筆記本的整機(jī)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)70-78
• 5.1 主板主機(jī)模塊71-76
• 5.2 低輻射鍵盤軌跡球組合76-77
• 5.3 本章小結(jié)77-78
• 第六章 加固筆記本可靠性設(shè)計(jì)78-88
• 6.1 可靠性模型78
• 6.2 可靠性預(yù)計(jì)和系統(tǒng)的可靠性計(jì)算78-84
• 6.3 可靠性設(shè)計(jì)84-86
• 6.3.1 元器件選用與控制84-85
• 6.3.2 降額設(shè)計(jì)85-86
• 6.4 本章小結(jié)86-88
• 第七章 加固筆記本試驗(yàn)與分析88-112
• 7.1 加固筆記本各接口功能測試88-94
• 7.2 擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘試驗(yàn)94-101
• 7.2.1 串口擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘試驗(yàn)94-98
• 7.2.2 鍵盤擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘實(shí)驗(yàn)98-100
• 7.2.3 擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘實(shí)驗(yàn)分析100-101
• 7.3 信號(hào)完整性試驗(yàn)101-108
• 7.3.1 時(shí)鐘線信號(hào)完整性及電磁輻射測試101-103
• 7.3.2 時(shí)鐘電路設(shè)計(jì)對(duì)比實(shí)驗(yàn)103-107
• 7.3.3 信號(hào)完整性實(shí)驗(yàn)分析107-108
• 7.4 電磁兼容性試驗(yàn)與分析108-110
• 7.4.1 整機(jī)的電磁輻射試驗(yàn)108-109
• 7.4.2 整機(jī)試驗(yàn)分析109-110
• 7.5 本章小結(jié)110-112
• 第八章 結(jié)論與展望112-116
• 8.1 論文工作總結(jié)112-113
• 8.2 未來工作展望113-116
• 參考文獻(xiàn)116-118
• 致謝118-120
• 個(gè)人簡歷、在學(xué)期間發(fā)表的論文與研究成果120

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  本文關(guān)鍵詞：基于XTX模塊的低輻射加固筆記本的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

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本文編號(hào)：299959