【摘要】： 交叉調(diào)試代理是嵌入式交叉調(diào)試系統(tǒng)的重要組成部分,也是使用最為普遍的一種調(diào)試方式。但無論是調(diào)試樁程序、調(diào)試服務器還是ROM Monitor、Rom Emulator這樣一些交叉調(diào)試代理,它們最大的缺點是占用目標系統(tǒng)的資源,消耗處理器時間,造成應用程序的最終運行環(huán)境和調(diào)試環(huán)境有差異;且影響被調(diào)試程序的運行。ICE通過替代目標機處理器的方式來調(diào)試程序,能消除這一影響;但針對專門的處理器定制的ICE價格非常昂貴,使得開發(fā)成本非常高。基于片上調(diào)試技術(shù)的在線仿真器大大降低了成本,但通用性仍然不夠強。因此,對基于片上調(diào)試技術(shù)的通用在線仿真器的研究仍然是一種較前沿的工作。國外的通用在線仿真器產(chǎn)品雖然技術(shù)較為成熟,并且穩(wěn)定可靠,但價格仍然相當昂貴,而限于資金投入和市場的原因,國內(nèi)很少有通用在線仿真器的研究成果。 本文在分析調(diào)試代理技術(shù)、片上調(diào)試技術(shù)和基于片上調(diào)試技術(shù)的通用在線仿真器產(chǎn)品的基礎上,借鑒通用在線仿真器的仿真調(diào)試方法,利用片上調(diào)試技術(shù),將調(diào)試代理從目標系統(tǒng)中獨立出來,以彌補調(diào)試代理本身的缺陷。方案中選擇了目前大多數(shù)嵌入式處理器芯片都支持的JTAG標準,采用具有良好發(fā)展趨勢的SOPC技術(shù),設計了一種通用調(diào)試代理結(jié)構(gòu)模型。該模型已以ARM7TDMI為目標處理器完成了驗證實現(xiàn)過程。 文中所研制的調(diào)試代理具有設置斷點、單步運行、連續(xù)運行、讀寫寄存器、讀寫內(nèi)存等基本仿真功能。對不同的目標處理器,只需要更改目標處理器相關(guān)部分的程序代碼,而保持硬件本身以及JTAG標準實現(xiàn)部分代碼不變,理論上可以調(diào)試任意的支持JTAG標準的目標處理器。 本文所設計的調(diào)試代理具有兩大特色,特色一:調(diào)試代理利用片上調(diào)試技術(shù)從目標系統(tǒng)中獨立出來,具有獨立性,避免了對目標機的影響;特色二:調(diào)試代理的通用性。它體現(xiàn)在兩點上:一是利用SOPC技術(shù),軟硬件設計相結(jié)合來實現(xiàn)整個系統(tǒng),使得本設計模型具有通用性;二是此調(diào)試代理可以調(diào)試所有支持JTAG標準的處理器。
【學位授予單位】：電子科技大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2007
【分類號】：TP368.12;TP391.9
【圖文】：

圖 2-1 JTAG 邊界掃描單元在正常工作狀態(tài)，邊界測試單元的工作流程是：輸入的數(shù)據(jù)從 NDI 經(jīng)輸入端SC 直接發(fā)往應用邏輯，然后經(jīng)過應用邏輯處理后的結(jié)果送往輸出端 BSC，經(jīng) NDO 輸出結(jié)果。在測試狀態(tài)，可以選擇數(shù)據(jù)流動的通道：對于輸入的 I成電路，Integrated Circuit）管腳，可以選擇從 NDI 或從 TDI 輸入數(shù)據(jù)；對出的 IC 管腳，可以選擇從 BSC 輸出數(shù)據(jù)至 NDO，也可以選擇從 BSC 輸出至 TDO。圖 2-2 是邊界掃描測試應用的示意圖。為了測試兩個 JTAG 設備的連接，首 JTAG 設備 1 某個輸出測試腳的 BSC 置為高或低電平，輸出至 TDO，然后TAG 設備 2 的輸入測試腳來捕獲從管腳輸入的 TDI 值，再通過測試數(shù)據(jù)通道獲到的數(shù)據(jù)輸出至 TDO，對比測試結(jié)果，即可快速準確的判斷這兩腳是否連靠。

圖 2-1 JTAG 邊界掃描單元在正常工作狀態(tài)，邊界測試單元的工作流程是：輸入的數(shù)據(jù)從 NDI 經(jīng)輸入端的 BSC 直接發(fā)往應用邏輯，然后經(jīng)過應用邏輯處理后的結(jié)果送往輸出端 BSC，直接經(jīng) NDO 輸出結(jié)果。在測試狀態(tài)，可以選擇數(shù)據(jù)流動的通道：對于輸入的 I（集成電路，Integrated Circuit）管腳，可以選擇從 NDI 或從 TDI 輸入數(shù)據(jù)；對于輸出的 IC 管腳，可以選擇從 BSC 輸出數(shù)據(jù)至 NDO，也可以選擇從 BSC 輸出數(shù)據(jù)至 TDO。圖 2-2 是邊界掃描測試應用的示意圖。為了測試兩個 JTAG 設備的連接，首先將 JTAG 設備 1 某個輸出測試腳的 BSC 置為高或低電平，輸出至 TDO，然后讓 JTAG 設備 2 的輸入測試腳來捕獲從管腳輸入的 TDI 值，再通過測試數(shù)據(jù)通道將捕獲到的數(shù)據(jù)輸出至 TDO，對比測試結(jié)果，即可快速準確的判斷這兩腳是否連接可靠。

【引證文獻】

相關(guān)碩士學位論文 前1條

1 韓東甫;支持多種連接方式的遠程調(diào)試器的設計與實現(xiàn)[D];電子科技大學;2011年

本文編號：2739694