【摘要】： 交叉調(diào)試代理是嵌入式交叉調(diào)試系統(tǒng)的重要組成部分,也是使用最為普遍的一種調(diào)試方式。但無(wú)論是調(diào)試樁程序、調(diào)試服務(wù)器還是ROM Monitor、Rom Emulator這樣一些交叉調(diào)試代理,它們最大的缺點(diǎn)是占用目標(biāo)系統(tǒng)的資源,消耗處理器時(shí)間,造成應(yīng)用程序的最終運(yùn)行環(huán)境和調(diào)試環(huán)境有差異;且影響被調(diào)試程序的運(yùn)行。ICE通過(guò)替代目標(biāo)機(jī)處理器的方式來(lái)調(diào)試程序,能消除這一影響;但針對(duì)專門的處理器定制的ICE價(jià)格非常昂貴,使得開(kāi)發(fā)成本非常高�；谄险{(diào)試技術(shù)的在線仿真器大大降低了成本,但通用性仍然不夠強(qiáng)。因此,對(duì)基于片上調(diào)試技術(shù)的通用在線仿真器的研究仍然是一種較前沿的工作。國(guó)外的通用在線仿真器產(chǎn)品雖然技術(shù)較為成熟,并且穩(wěn)定可靠,但價(jià)格仍然相當(dāng)昂貴,而限于資金投入和市場(chǎng)的原因,國(guó)內(nèi)很少有通用在線仿真器的研究成果。 本文在分析調(diào)試代理技術(shù)、片上調(diào)試技術(shù)和基于片上調(diào)試技術(shù)的通用在線仿真器產(chǎn)品的基礎(chǔ)上,借鑒通用在線仿真器的仿真調(diào)試方法,利用片上調(diào)試技術(shù),將調(diào)試代理從目標(biāo)系統(tǒng)中獨(dú)立出來(lái),以彌補(bǔ)調(diào)試代理本身的缺陷。方案中選擇了目前大多數(shù)嵌入式處理器芯片都支持的JTAG標(biāo)準(zhǔn),采用具有良好發(fā)展趨勢(shì)的SOPC技術(shù),設(shè)計(jì)了一種通用調(diào)試代理結(jié)構(gòu)模型。該模型已以ARM7TDMI為目標(biāo)處理器完成了驗(yàn)證實(shí)現(xiàn)過(guò)程。 文中所研制的調(diào)試代理具有設(shè)置斷點(diǎn)、單步運(yùn)行、連續(xù)運(yùn)行、讀寫(xiě)寄存器、讀寫(xiě)內(nèi)存等基本仿真功能。對(duì)不同的目標(biāo)處理器,只需要更改目標(biāo)處理器相關(guān)部分的程序代碼,而保持硬件本身以及JTAG標(biāo)準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)部分代碼不變,理論上可以調(diào)試任意的支持JTAG標(biāo)準(zhǔn)的目標(biāo)處理器。 本文所設(shè)計(jì)的調(diào)試代理具有兩大特色,特色一:調(diào)試代理利用片上調(diào)試技術(shù)從目標(biāo)系統(tǒng)中獨(dú)立出來(lái),具有獨(dú)立性,避免了對(duì)目標(biāo)機(jī)的影響;特色二:調(diào)試代理的通用性。它體現(xiàn)在兩點(diǎn)上:一是利用SOPC技術(shù),軟硬件設(shè)計(jì)相結(jié)合來(lái)實(shí)現(xiàn)整個(gè)系統(tǒng),使得本設(shè)計(jì)模型具有通用性;二是此調(diào)試代理可以調(diào)試所有支持JTAG標(biāo)準(zhǔn)的處理器。
【學(xué)位授予單位】：電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2007
【分類號(hào)】：TP368.12;TP391.9
【圖文】：

圖 2-1 JTAG 邊界掃描單元在正常工作狀態(tài)，邊界測(cè)試單元的工作流程是：輸入的數(shù)據(jù)從 NDI 經(jīng)輸入端SC 直接發(fā)往應(yīng)用邏輯，然后經(jīng)過(guò)應(yīng)用邏輯處理后的結(jié)果送往輸出端 BSC，經(jīng) NDO 輸出結(jié)果。在測(cè)試狀態(tài)，可以選擇數(shù)據(jù)流動(dòng)的通道：對(duì)于輸入的 I成電路，Integrated Circuit）管腳，可以選擇從 NDI 或從 TDI 輸入數(shù)據(jù)；對(duì)出的 IC 管腳，可以選擇從 BSC 輸出數(shù)據(jù)至 NDO，也可以選擇從 BSC 輸出至 TDO。圖 2-2 是邊界掃描測(cè)試應(yīng)用的示意圖。為了測(cè)試兩個(gè) JTAG 設(shè)備的連接，首 JTAG 設(shè)備 1 某個(gè)輸出測(cè)試腳的 BSC 置為高或低電平，輸出至 TDO，然后TAG 設(shè)備 2 的輸入測(cè)試腳來(lái)捕獲從管腳輸入的 TDI 值，再通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)通道獲到的數(shù)據(jù)輸出至 TDO，對(duì)比測(cè)試結(jié)果，即可快速準(zhǔn)確的判斷這兩腳是否連靠。

圖 2-1 JTAG 邊界掃描單元在正常工作狀態(tài)，邊界測(cè)試單元的工作流程是：輸入的數(shù)據(jù)從 NDI 經(jīng)輸入端的 BSC 直接發(fā)往應(yīng)用邏輯，然后經(jīng)過(guò)應(yīng)用邏輯處理后的結(jié)果送往輸出端 BSC，直接經(jīng) NDO 輸出結(jié)果。在測(cè)試狀態(tài)，可以選擇數(shù)據(jù)流動(dòng)的通道：對(duì)于輸入的 I（集成電路，Integrated Circuit）管腳，可以選擇從 NDI 或從 TDI 輸入數(shù)據(jù)；對(duì)于輸出的 IC 管腳，可以選擇從 BSC 輸出數(shù)據(jù)至 NDO，也可以選擇從 BSC 輸出數(shù)據(jù)至 TDO。圖 2-2 是邊界掃描測(cè)試應(yīng)用的示意圖。為了測(cè)試兩個(gè) JTAG 設(shè)備的連接，首先將 JTAG 設(shè)備 1 某個(gè)輸出測(cè)試腳的 BSC 置為高或低電平，輸出至 TDO，然后讓 JTAG 設(shè)備 2 的輸入測(cè)試腳來(lái)捕獲從管腳輸入的 TDI 值，再通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)通道將捕獲到的數(shù)據(jù)輸出至 TDO，對(duì)比測(cè)試結(jié)果，即可快速準(zhǔn)確的判斷這兩腳是否連接可靠。

【引證文獻(xiàn)】

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前1條

1 韓東甫;支持多種連接方式的遠(yuǎn)程調(diào)試器的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D];電子科技大學(xué);2011年

本文編號(hào)：2739694