發(fā)布時間：2020-07-03 04:37

【摘要】： 隨著工藝尺寸和電源電壓的減小、存儲器中多位翻轉(zhuǎn)(MBUs)發(fā)生的幾率越來越大,成為影響存儲器可靠性的重要因素。內(nèi)容可尋址存儲器(CAM),是一種特殊的存儲器,除具有普通存儲器的讀寫功能外,還能在一個周期內(nèi)搜索整個存儲器,并給出搜索數(shù)據(jù)的地址,常用于cache、路由查找表等搜索密集型領域。CAM采用SRAM作為存儲單元,并且存在大的地反射噪聲,使得CAM比SRAM更易受到軟錯誤的影響,因此研究CAM的抗多位翻轉(zhuǎn)加固技術(shù)具有重要意義。 由于CAM結(jié)構(gòu)的特殊性,不適合直接采用ECC方法對其進行加固。本文采用電流探測思想,提出一種CAM抗多位翻轉(zhuǎn)加固方法,此方法采用內(nèi)建電流探測器(BICS)進行錯誤的檢測和列定位,采用多位奇偶校驗碼完成錯誤行定位,并將糾錯電路和讀寫控制電路結(jié)合完成糾錯操作。 本文首先設計了64x64 bits的常規(guī)CAM,然后分別設計了BICS電路、多位奇偶校驗碼的編碼解碼電路及糾錯電路,最后根據(jù)提出的加固方法將各子電路結(jié)合起來,完成抗多位翻轉(zhuǎn)的CAM的設計,并對整個系統(tǒng)進行仿真和分析,仿真結(jié)果表明,該方法能夠?qū)AM中發(fā)生的任意4位及以下的錯誤進行檢測和糾錯,錯誤探測延遲1.1ns;在0.18μm工藝下完成了主要電路的版圖設計,設計結(jié)果表明整體面積增加小于13%。以較小的性能和面積消耗實現(xiàn)了CAM抗多位翻轉(zhuǎn)的加固。
【學位授予單位】：哈爾濱工業(yè)大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2010
【分類號】：TP333

【參考文獻】

相關期刊論文 前1條

1 阮宜武;漢明碼檢驗系統(tǒng)的電路實現(xiàn)[J];網(wǎng)絡安全技術(shù)與應用;2005年08期

相關碩士學位論文 前1條

1 劉艷;SRAM中新型結(jié)構(gòu)的靈敏放大器及地址譯碼器的設計[D];合肥工業(yè)大學;2002年

本文編號：2739196