【摘要】： 本文針對(duì)狹小緊湊環(huán)境下的高沖擊加速度存儲(chǔ)測(cè)試,研制了基于串行閃存的微型存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng),主要從以下三個(gè)方面進(jìn)行了研究:(1)對(duì)在設(shè)計(jì)過程中面臨的微型化、抗高沖擊、高精度及在受到惡劣環(huán)境作用下信號(hào)有效保存等關(guān)鍵技術(shù)問題,有針對(duì)性的進(jìn)行分析并采取相關(guān)措施進(jìn)行優(yōu)化;(2)對(duì)整個(gè)存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)從方案制定到硬件電路模塊化設(shè)計(jì)都進(jìn)行詳細(xì)的闡述;(3)對(duì)硬件電路中的核心控制器CPLD按功能進(jìn)行模塊化設(shè)計(jì)及時(shí)序的仿真驗(yàn)證。 本文對(duì)串行閃存SST25VF032B寫入數(shù)據(jù)的最快時(shí)間進(jìn)行了深入的理論分析,并結(jié)合實(shí)際電路調(diào)試,得出結(jié)論:在兩片串行閃存交替存儲(chǔ)數(shù)據(jù)時(shí)系統(tǒng)最大采樣頻率可達(dá)180kHz,每一片閃存寫入一個(gè)字的時(shí)間應(yīng)大于11.12μs。該系統(tǒng)針對(duì)持續(xù)時(shí)間為ms級(jí)的高沖擊加速度信號(hào)可以很好的實(shí)現(xiàn)采集存儲(chǔ)。若采用多片閃存交替存儲(chǔ)數(shù)據(jù),還可進(jìn)一步提高系統(tǒng)的采樣頻率。
【學(xué)位授予單位】：中北大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2010
【分類號(hào)】：TP333

【參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：2652824