【摘要】：在帶真實(shí)PCIE設(shè)備的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試環(huán)境中,由于驅(qū)動(dòng)程序或應(yīng)用測(cè)試程序的更換,可能需要頻繁引導(dǎo)操作系統(tǒng),造成額外時(shí)間開銷;同時(shí),由于真實(shí)外設(shè)的存在,系統(tǒng)調(diào)試能力急劇降低,給調(diào)試帶來巨大挑戰(zhàn)。分別對(duì)帶真實(shí)PCIE設(shè)備的系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證流程及調(diào)試進(jìn)行了優(yōu)化。驗(yàn)證流程方面,一方面采用“抽屜式”內(nèi)存管理機(jī)制,通過ramdisk直接更換驅(qū)動(dòng)程序及benchmark,避免重復(fù)引導(dǎo)OS;另一方面,通過Ethernet通路實(shí)現(xiàn)程序更換,進(jìn)一步節(jié)省狀態(tài)恢復(fù)、PCIE熱復(fù)位時(shí)間。調(diào)試能力優(yōu)化方面,利用display buffer,SDL捕捉關(guān)鍵信號(hào)并導(dǎo)出處理后還原成波形,并通過選定合適的捕捉信號(hào)、buffer深度、降頻操作,盡可能增大連續(xù)波形長(zhǎng)度,改善調(diào)試能力。
[Abstract]:In the system-level test environment with real PCIE devices, due to the replacement of drivers or application testing programs, it may be necessary to boot the operating system frequently, resulting in additional time overhead. At the same time, due to the existence of real peripherals, the debugging ability of the system is greatly reduced, which brings great challenges to debugging. The system-level verification process and debugging with real PCIE equipment are optimized respectively. In the verification process, on the one hand, the "drawer" memory management mechanism is adopted to replace the driver directly through ramdisk and benchmark, to avoid repeated boot of OS;. On the other hand, program replacement is realized through Ethernet path to further save state recovery and PCIE thermal reset time. In the aspect of debugging ability optimization, display buffer,SDL is used to capture the key signal and then restore it to waveform, and by selecting the appropriate capture signal, buffer depth and frequency reduction operation, the continuous waveform length can be increased as much as possible to improve the debugging ability.
【作者單位】： 天津飛騰信息技術(shù)有限公司;Cadence;
【分類號(hào)】：TP306.2

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本文編號(hào)：2482574