發(fā)布時間：2019-03-26 20:29

【摘要】：隨著數(shù)據(jù)處理能力的不斷提高,高速接口的應用越來越廣泛。高速接口的測試難度較大,需要依靠工程師的經(jīng)驗和較長時間的分析才能確定故障的類型和位置。通過故障狀態(tài)下高速接口的波形形態(tài)分析,確定了故障與故障波形之間的對應關(guān)系,降低了故障分析定位代價。實驗系統(tǒng)以實際PCIE IP核構(gòu)造了片間傳輸邏輯結(jié)構(gòu),利用SPICE模擬器模擬出了各種故障下的波形形態(tài),形成了故障字典。
[Abstract]:With the continuous improvement of data processing ability, the application of high-speed interface is more and more extensive. It is difficult to test the high-speed interface. It depends on the engineer's experience and long-time analysis to determine the type and location of the fault. Through the waveform shape analysis of the high-speed interface under the fault condition, the corresponding relationship between the fault and the fault waveform is determined, and the cost of fault analysis and location is reduced. The experimental system constructs the logical structure of the inter-chip transmission based on the actual PCIE IP core, simulates the waveforms under various faults by using the SPICE simulator, and forms the fault dictionary.
【作者單位】： 湖南大學信息科學與工程學院;國防科學技術(shù)大學計算機學院;
【基金】：超級計算機處理器研發(fā)(2013ZX01028001-002)資助
【分類號】：TP334.7

【參考文獻】

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【二級參考文獻】

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本文編號：2447900