本文選題：嵌入式IO控制器軟件 + 軟件測試��； 參考：《上海交通大學(xué)》2012年碩士論文

【摘要】：隨著嵌入式軟件在航空、航天等諸多領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，嵌入式軟件的質(zhì)量越來越受到關(guān)注。軟件一旦失敗，就會直接或間接影響人類的生命財產(chǎn)和生態(tài)環(huán)境的安危，作為保障軟件質(zhì)量重要手段的軟件測試技術(shù)逐漸被重視和應(yīng)用。本文以我院研制的發(fā)控計算機IO控制器軟件測試需求為背景，搭建一套獨立有效的第三方測試平臺，圍繞發(fā)控計算機IO控制器軟件測試平臺研制及測試過程中存在的關(guān)鍵問題展開研究。本文的主要貢獻有以下四點： 1、比較研究了目前存在的通用軟件測試過程模型的優(yōu)點和缺點，結(jié)合嵌入式發(fā)控系統(tǒng)IO控制器軟件的特點，提出嵌入式IO控制器軟件測試過程模型，在確保IO控制器軟件質(zhì)量的同時，提高了測試效率。 2、課題從型號實際需要出發(fā)，將靜態(tài)測試技術(shù)應(yīng)用到IO控制器軟件測試工作中，研究了靜態(tài)測試中的度量技術(shù)，同時考慮到圈復(fù)雜度、基本復(fù)雜度、扇入/扇出數(shù)對海軍型號軟件的影響，，提出了降低部分軟件靜態(tài)度量指標的方法。 3、結(jié)合IO控制器軟件的特點，詳細地分析了海軍裝備軟件內(nèi)存缺陷測試存在的問題，對嵌入式軟件內(nèi)存使用缺陷測試進行關(guān)注點舉例說明，通過實驗比較分析了三種邏輯測試工具的代碼膨脹率，闡述了幾種開發(fā)環(huán)境的內(nèi)存泄露測試的前提條件，為測試工具選擇提供了依據(jù)，借助CodeTEST測試工具，找到了嵌入式IO控制器軟件內(nèi)存泄漏的出處并且分析了原因，提出了修改方法。 4、論文分析了發(fā)控系統(tǒng)嵌入式IO控制器軟件覆蓋率測試的需求和難點，配置Testbed/RTinsight和CodeTEST軟件和硬件測試環(huán)境，盡可能不影響被測系統(tǒng)執(zhí)行時間以及如何有效地獲得覆蓋率歷史數(shù)據(jù)，實現(xiàn)嵌入式IO控制器軟件覆蓋率測試自動化。 本文針對嵌入式軟件的測試需求提出了有效的解決方法，提高了發(fā)控系統(tǒng)嵌入式IO控制器軟件測試的充分性、獨立性和有效性，這一方法將對其他嵌入式軟件測試同樣適用。
[Abstract]:With the wide application of embedded software in aviation, aerospace and other fields, the quality of embedded software has been paid more and more attention. Once the software fails, it will directly or indirectly affect the life and property of human beings and the safety of the ecological environment. As an important means to guarantee the quality of software, software testing technology has gradually been attached importance to and applied. In this paper, based on the software test requirements of the launch and control computer IO controller developed by our hospital, a set of independent and effective third party test platform is built. The key problems in the development and testing process of IO controller software test platform of launch and control computer are studied. The main contributions of this paper are as follows: 1. The advantages and disadvantages of the current common software test process model are compared and studied. Combining with the characteristics of IO controller software in embedded launch and control system, an embedded IO controller software test process model is proposed. In order to ensure the quality of IO controller software, the test efficiency is improved. 2. According to the actual needs of the model, the static test technology is applied to the IO controller software testing, and the measurement technology in the static test is studied, and the cyclomatic complexity and the basic complexity are taken into account. The influence of fan-in / fan-out number on naval model software is discussed, and a method to reduce the static metrics of some software is proposed. 3. According to the characteristics of IO controller software, the problems existing in memory defect testing of naval equipment software are analyzed in detail, and some examples are given to illustrate the memory usage defect test of embedded software. In this paper, the code expansion rate of three logic test tools is compared and analyzed through experiments, and the preconditions of memory leak testing in several development environments are expounded, which provide the basis for the selection of test tools, and with the help of CodeTEST testing tools, The source of the memory leak of the embedded IO controller software is found, and the reasons are analyzed, and the modification method is put forward. 4. This paper analyzes the requirements and difficulties of software coverage test of embedded IO controller in launch and control system, configures Testbed/RTinsight and CodeTEST software and hardware test environment, and as far as possible does not affect the execution time of the system under test and how to obtain coverage history data effectively. The software coverage test automation of embedded IO controller is realized. This paper presents an effective solution to the test requirements of embedded software, which improves the adequacy, independence and effectiveness of embedded IO controller software testing in launch and control system. This method will also be applicable to other embedded software testing.
【學(xué)位授予單位】：上海交通大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2012
【分類號】：TP311.52;TP368.1

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本文編號：1953858