發(fā)布時(shí)間：2018-05-27 20:35

  本文選題：仿真測(cè)試 + 單粒子翻轉(zhuǎn)�。� 參考：《電子器件》2014年05期

【摘要】：為實(shí)現(xiàn)SRAM芯片的單粒子翻轉(zhuǎn)故障檢測(cè),基于LabVIEW和FPGA設(shè)計(jì)了一套存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng):故障監(jiān)測(cè)端基于LabVIEW開發(fā)了可視化的測(cè)試平臺(tái),執(zhí)行數(shù)據(jù)的采集、存儲(chǔ)及結(jié)果分析任務(wù),板卡測(cè)試端通過FPGA向參考SRAM和待測(cè)SRAM注入基于March C-算法的測(cè)試向量,通過NI公司的HSDIO-6548板卡采集2個(gè)SRAM的數(shù)據(jù),根據(jù)其比較結(jié)果判定SEU故障是否發(fā)生。該系統(tǒng)可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)故障狀態(tài)及測(cè)試進(jìn)程,并且具有較好的可擴(kuò)展性。
[Abstract]:A memory test system based on LabVIEW and FPGA is designed to realize the single particle flip fault detection of SRAM chip. A visual test platform based on LabVIEW is developed in the fault monitoring terminal to perform the task of data acquisition, storage and result analysis. The board test end injects the test vector based on March C- algorithm to the reference SRAM and the SRAM to be tested through FPGA, collects the data of two SRAM through the HSDIO-6548 board card of NI company, and determines whether the SEU fault occurs or not according to the comparison result. The system can monitor the fault state and test process in real time, and has good scalability.
【作者單位】： 中國民航大學(xué)天津市民用航空器適航與維修重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;中國民航大學(xué)安全科學(xué)與工程學(xué)院;
【基金】：國家自然科學(xué)基金委員會(huì)與中國民用航空局聯(lián)合項(xiàng)目(U1333120) 中央高校基本科研業(yè)務(wù)費(fèi)項(xiàng)目(3122013P004);中央高�；究蒲袠I(yè)務(wù)費(fèi)項(xiàng)目(312013SY53) 中國民航大學(xué)科研啟動(dòng)基金項(xiàng)目(2012QD26X)
【分類號(hào)】：TP333

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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【二級(jí)參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：1943657