本文選題：APU + 溫度測試��； 參考：《西安電子科技大學》2013年碩士論文

【摘要】：隨著半導體技術(shù)的飛速發(fā)展,器件的微型化和集成化成了主要的目前集成電路行業(yè)的趨勢。在處理器行業(yè),也提出了融合理念,并推出了新的產(chǎn)品APU。APU的問世對半導體測試帶來了新的挑戰(zhàn)。需要設計一個新的測試系統(tǒng)來完成對APU產(chǎn)品溫度測試精度的要求。 針對APU的產(chǎn)品特性,分析原有APU測試系統(tǒng)的測試機制,并研究其在新系統(tǒng)型芯片、系統(tǒng)測試中面臨的問題及不足,在此基礎上提出新APU溫度測試系統(tǒng)架構(gòu),分析其性能及實現(xiàn)方法。針對系統(tǒng)中的熱阻二極管對APU的測試產(chǎn)生的誤差太大,在溫度測試系統(tǒng)中采用多點采集模式,并加入了核心的TCC計算控制電路,從而實現(xiàn)了整個溫度控制系統(tǒng)的完善,并且針對新的控制系統(tǒng),搭配了完整的溫度控制模塊,定義了完整的溫度信號的處理邏輯。新的溫度測試系統(tǒng)完善之后對其進行驗證校準,完成了整個溫度控制系統(tǒng)的實現(xiàn),并用于生產(chǎn)測試,提高了產(chǎn)品的測試成品率
[Abstract]:With the rapid development of semiconductor technology, the miniaturization and integration of devices have become the main trend of integrated circuit industry. In the processor industry, the concept of integration is also proposed, and the introduction of a new product, APU.APU, has brought new challenges to semiconductor testing. A new test system needs to be designed to meet the requirements of APU product temperature measurement accuracy. According to the product characteristics of APU, the testing mechanism of the original APU test system is analyzed, and the problems and shortcomings in the new system chip and system test are studied. On this basis, a new APU temperature testing system architecture is proposed. Its performance and implementation method are analyzed. In view of the error caused by the thermal resistance diode in the system to the APU test, the multi-point acquisition mode is adopted in the temperature test system, and the core TCC calculation control circuit is added to realize the perfection of the whole temperature control system. For the new control system, a complete temperature control module is used to define the logic of temperature signal processing. The new temperature test system is verified and calibrated after it is completed, and the whole temperature control system is realized, which is used for production test and improves the test yield of the product.
【學位授予單位】：西安電子科技大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2013
【分類號】：TN307;TP332

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本文編號：1903708