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一種新穎的二維糾錯碼加固存儲器設(shè)計方法

發(fā)布時間:2018-05-10 11:46

  本文選題:存儲器 + 抗輻射加固; 參考:《宇航學報》2014年02期


【摘要】:提出了一種新穎的二維糾錯碼電路,可以有效地抑制輻射引起的存儲器多位翻轉(zhuǎn)。提出設(shè)計方法的最大特點是可以修正任意指定寬度的多位翻轉(zhuǎn),并以較低的硬件開銷確保存儲器的高可靠性。首先,本文提出一種新穎的二維修正碼:把一個存儲器的字拆分成一個二維矩陣的形式,分別對每一行和每一列加入多位錯誤探測碼和奇偶校驗碼。隨后,設(shè)計了存儲器多位翻轉(zhuǎn)的修正算法。最后,對提出的方法進行了電路和版圖設(shè)計,并且利用提出的版圖分割法解決了二維修正碼冗余位中可能出現(xiàn)的多位翻轉(zhuǎn),進一步提高了存儲器的可靠性。實驗結(jié)果表明,提出的存儲加固設(shè)計方法具有更高的可靠性。同目前已知的多位修正碼相比,具有更低的編碼和譯碼硬件開銷,甚至低于只有一位修正能力的漢明碼。
[Abstract]:A novel 2-D error-correcting code circuit is proposed, which can effectively suppress the memory multi-bit flip caused by radiation. The main characteristic of the proposed design method is that it can modify the multi-bit flipping with arbitrary width and ensure the high reliability of the memory with lower hardware overhead. First of all, a novel two-dimensional correction code is proposed: the word of a memory is divided into a two-dimensional matrix, and multi-bit error detection code and parity check code are added to each row and each column, respectively. Then, the modified algorithm of memory multi-bit flipping is designed. Finally, the circuit and layout of the proposed method are designed, and the proposed layout segmentation method is used to solve the possible multi-bit flipping in the redundant bits of two-dimensional correction code, which further improves the reliability of the memory. The experimental results show that the proposed design method is more reliable. Compared with the known multibit correction code, it has lower hardware cost of coding and decoding, and even lower than the hamming code with only one bit correction ability.
【作者單位】: 哈爾濱工業(yè)大學微電子中心;中國空間技術(shù)研究院電子元器件可靠性中心;
【基金】:哈爾濱市科技創(chuàng)新人才研究專項資金項目(抗多位翻轉(zhuǎn)存儲器加固技術(shù)研究,2012RFXXG042)
【分類號】:TP333

【參考文獻】

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【共引文獻】

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【二級參考文獻】

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本文編號:1869179

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