本文選題：閃存生命周期 + 比特錯誤率��； 參考：《計算機工程與設計》2017年06期

【摘要】：為提升面向閃存的糾錯碼設計方案的靈活性,降低編解碼延時,提出一種自適應糾錯碼方案。建立閃存數(shù)據(jù)存儲等效信道模型,通過信道有效性參數(shù)建立比特錯誤率與糾錯碼糾錯能力間量化評估關系;依據(jù)物理塊擦除次數(shù)及數(shù)據(jù)存儲時間衡量其比特錯誤率,結合設計者預期的信道有效性與待編碼信息組長度,利用信道有效性分析結果,自動為其適配糾錯碼類型、最大糾錯能力及生成多項式系數(shù)等參數(shù)。以基于物理塊分類的糾錯碼設計方案為例,對比傳統(tǒng)糾錯碼設計方案性能,對比結果表明,自適應糾錯碼方案在降低編解碼時間及冗余度方面具有明顯優(yōu)勢。
[Abstract]:In order to improve the flexibility of flash oriented error correction code design and reduce the coding and decoding delay, an adaptive error correction code scheme is proposed. The equivalent channel model of flash memory data storage is established, and the quantization evaluation relationship between bit error rate and error correction ability is established through channel validity parameters, and the bit error rate is measured according to the number of physical block erasures and the time of data storage. Combined with the expected channel validity and the length of the information group to be coded, the channel validity analysis results are used to automatically match the error correction code type, the maximum error correction ability and the generating polynomial coefficients. Taking the design scheme of error-correcting code based on physical block classification as an example, the performance of the traditional error-correcting code design scheme is compared. The results show that the adaptive error-correcting code scheme has obvious advantages in reducing coding and decoding time and redundancy.
【作者單位】： 信息工程大學三院四教;
【分類號】：TP333

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本文編號：1827246