基于阻變存儲芯片功能仿真與驗證系統(tǒng)設計
本文選題:自動測試設備 + 阻變存儲器; 參考:《安徽大學》2017年碩士論文
【摘要】:隨著互聯(lián)網技術與信息產業(yè)的迅速發(fā)展,大容量存儲器的研發(fā)愈發(fā)受到重視。存儲器的驗證測試對于縮短研發(fā)周期,保障產品質量起到了至關重要的作用。而集成電路自動測試設備(Automatic test equipment,ATE)相對于傳統(tǒng)的測試方法具有良好的人機交互界面、自動化程度強、易操作等特點,降低了操作人員的使用門檻,因此得到了廣泛的應用。目前高端ATE市場被國外壟斷且價格昂貴。本文基于阻變存儲器芯片(Resistance Random Access Memory,RRAM)的功能仿真開發(fā)了一款經濟實用的驗證平臺,主要內容有:1、研究了存儲器測試的基本原理和測試技術,討論了 ATE的國內外研究現狀。2、介紹了阻變存儲器基本原理,詳細研究了待測阻變存儲器芯片內部結構與時序工作原理;并對芯片進行了詳細的功能時序驗證分析,明確了驗證系統(tǒng)的測試目的。3、詳細介紹了基于待測RRAM芯片開發(fā)的驗證系統(tǒng)硬件電路設計。包含FPGA器件選型、引腳電路設計、程控電源設計。4、重點介紹了驗證系統(tǒng)的可編程邏輯設計:如ATE通信協(xié)議設計、定時器設計、格式化波形設計、測試結果診斷設計、測試結果存取設計。5、最后介紹了 Load Board板設計,并運用設計出的驗證系統(tǒng)對阻變存儲器芯片進行了實際測試,驗證了系統(tǒng)邏輯設計的正確性。本文設計的驗證系統(tǒng)具有以下特點:(1)測試速率達到1OMhz;(2)自定義ATE通信協(xié)議;(3)56個測試通道;(4)各測試通道均有獨立可調的定時器;(5)支持6種格式化編碼方式;(6)具有較高性價比。
[Abstract]:With the rapid development of Internet technology and information industry , the research and development of large - capacity memory has become more and more attention . The verification test of memory has played an important role in shortening the R & D period and ensuring the quality of products .
【學位授予單位】:安徽大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2017
【分類號】:TP333
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,本文編號:1822622
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