發(fā)布時間：2018-03-28 00:09

  本文選題：嵌入式　切入點：MP3　出處：《西安電子科技大學(xué)》2013年碩士論文

【摘要】：隨著近些年信息技術(shù)的飛速發(fā)展，如今的嵌入式系統(tǒng)已經(jīng)成為諸多行業(yè)研究和應(yīng)用的熱點。因為flash具有非易失性、讀取速度快和功耗低等特點被廣泛的應(yīng)用于嵌入式系統(tǒng)，但芯片測試存在周期長，成本高等問題。 本文結(jié)合0.13μm嵌入式閃存存儲器和90nm閃存存儲器的研發(fā)項目，提出了一種基于單片機AT89C51SND1的可實現(xiàn)MP3播放的flash測試的設(shè)計方法，以AT89C51SND1為核心，設(shè)計外圍電路，完成原理圖設(shè)計、PCB板設(shè)計并裝配成實驗開發(fā)板，并利用c語言調(diào)整編譯器KeilC和ISP在線調(diào)試軟件FLIP，將嵌入式技術(shù)融入單片機系統(tǒng)開發(fā)和應(yīng)用，調(diào)試實現(xiàn)具有多媒體播放功能并測試flash功能和性能。 在與老師同學(xué)合作設(shè)計、制造、調(diào)試開發(fā)板的過程中，學(xué)習(xí)實踐軟、硬件的設(shè)計思想、開發(fā)的流程、相關(guān)軟件的使用、解決問題的能力，合作完成了開發(fā)板的設(shè)計和制版工作，，并完成部分flash功能和性能的測試。
[Abstract]:With the rapid development of information technology in recent years, embedded system has become a hot research and application in many industries. Because flash has the characteristics of non-volatile, fast reading speed and low power consumption, it has been widely used in embedded systems. However, the chip test has the problems of long period and high cost. Combined with the R & D project of 0.13 渭 m embedded flash memory and 90nm flash memory, this paper presents a design method of flash test for MP3 playback based on MCU AT89C51SND1. The peripheral circuit is designed with AT89C51SND1 as the core. The schematic design is completed and the PCB board is designed and assembled into an experimental development board. The compiler KeilC and ISP on-line debugging software FLIPA are adjusted by c language. The embedded technology is integrated into the development and application of single-chip microcomputer system. Debug implementation has multimedia play function and test flash function and performance. In the process of designing, manufacturing and debugging the development board with teachers and classmates, learn to practice the design ideas of software and hardware, the process of development, the use of related software, and the ability to solve problems. Cooperation completed the development board design and plate making, and some of the flash function and performance testing.
【學(xué)位授予單位】：西安電子科技大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2013
【分類號】：TP368.1;TN407

【參考文獻】

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1 許偉達;;IC測試原理-存儲器和邏輯芯片的測試[J];半導(dǎo)體技術(shù);2006年05期

2 李力;閃速存儲器技術(shù)現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢[J];單片機與嵌入式系統(tǒng)應(yīng)用;2001年08期

3 張連明,霍迎輝;嵌入式系統(tǒng)的設(shè)計與開發(fā)[J];國外電子元器件;2004年01期

4 汪勇,熊前興;MP3文件格式解析[J];計算機應(yīng)用與軟件;2004年12期

5 潘立陽,朱鈞;Flash存儲器技術(shù)與發(fā)展[J];微電子學(xué);2002年01期

6 李國峰;董海坤;張勇;邵巍;高平;高丕濤;;基于ISP1362的U盤MP3播放器設(shè)計[J];電子設(shè)計應(yīng)用;2007年02期

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1 王正蘭;基于AT89C51的多功能智能實驗測試儀器的設(shè)計與實現(xiàn)[D];蘭州大學(xué);2006年

2 馬海燕;嵌入式存儲器的測試方法研究與實現(xiàn)[D];東華大學(xué);2010年

本文編號：1673864