本文關(guān)鍵詞： DSP 總劑量效應(yīng) 單粒子效應(yīng) 輻射測(cè)試方法 最劣偏置條件　出處：《西安電子科技大學(xué)》2013年碩士論文　論文類(lèi)型：學(xué)位論文

【摘要】：DSP在航天器中會(huì)受到空間輻射環(huán)境的影響，產(chǎn)生各種輻射效應(yīng)。對(duì)DSP的抗輻射性能的評(píng)估與測(cè)試是提高器件可靠性的重要環(huán)節(jié)，因此對(duì)DSP的空間輻射敏感性的分析和輻射測(cè)試方法的研究具有重要意義。 以DSP器件TMS320C6701為研究對(duì)象，，結(jié)合該DSP的電路結(jié)構(gòu)與功能特點(diǎn)，首先對(duì)DSP不同功能單元的單粒子效應(yīng)敏感性進(jìn)行了分析；針對(duì)DSP的單粒子效應(yīng)的特點(diǎn)及表現(xiàn)，分析并總結(jié)了基于功能程序和基于DFT電路兩種單粒子檢測(cè)方法。分析了CMOS器件的總劑量效應(yīng)機(jī)理，通過(guò)理論研究與仿真分析得出總劑量效應(yīng)主要影響電路的靜態(tài)漏電流和延遲時(shí)間；分析得出DSP的最劣偏置條件為靜態(tài)偏置，并分別研究了DSP的I/O和內(nèi)核電路的偏置方式。最后設(shè)計(jì)了DSP總劑量實(shí)驗(yàn)方案和偏置系統(tǒng)電路。
[Abstract]:DSP in spacecraft will be affected by space radiation environment, which will produce various radiation effects. The evaluation and test of DSP's anti-radiation performance is an important step to improve the reliability of the device. Therefore, it is of great significance to analyze the spatial radiation sensitivity of DSP and to study the radiation measurement methods. Taking the TMS320C6701 of DSP device as the research object, combining the circuit structure and function characteristics of the DSP, the sensitivity of the single particle effect of different functional units of DSP is analyzed, and the characteristics and performance of the single particle effect of DSP are analyzed. Two methods of single particle detection based on function program and DFT circuit are analyzed and summarized. The mechanism of total dose effect of CMOS devices is analyzed. Through theoretical research and simulation analysis, it is concluded that the total dose effect mainly affects the static leakage current and delay time of the circuit, and the worst bias condition of DSP is static bias. The I / O and the bias mode of the core circuit of DSP are studied respectively. Finally, the total dose experiment scheme of DSP and the bias system circuit are designed.
【學(xué)位授予單位】：西安電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2013
【分類(lèi)號(hào)】：TN432;TP332

【參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：1542533