本文關(guān)鍵詞： FPGA SEU 故障注入 部分重構(gòu) ICAP　出處：《微電子學(xué)與計算機(jī)》2014年03期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：在研究SRAM型FPGA配置存儲器物理結(jié)構(gòu)及配置結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,發(fā)現(xiàn)對FPGA配置文件中的幀數(shù)據(jù)進(jìn)行0/1翻轉(zhuǎn)可以實現(xiàn)配置存儲器的人為翻轉(zhuǎn),從而來仿真FPGA的SEU效應(yīng).基于部分重構(gòu)技術(shù)設(shè)計了一種針對SRAM型FPGA的SEU故障注入系統(tǒng),通過ICAP來實現(xiàn)部分重構(gòu),不需要額外的硬件開銷.故障注入系統(tǒng)在XUP XC2VP30開發(fā)板上實現(xiàn),通過對三個FPGA典型設(shè)計進(jìn)行SEU敏感性分析,驗證了所設(shè)計系統(tǒng)的有效性,并驗證了三模冗余的加固效果.
[Abstract]:On the basis of studying the physical structure and configuration structure of SRAM type FPGA configuration memory, it is found that the configuration memory can be manually flipped by 0/1 flipping the frame data in the FPGA configuration file. Based on the partial reconfiguration technology, a SEU fault injection system for SRAM type FPGA is designed, which realizes partial reconfiguration through ICAP without additional hardware overhead. The fault injection system is implemented on the XUP XC2VP30 development board. Through the SEU sensitivity analysis of three typical FPGA designs, the effectiveness of the designed system is verified, and the reinforcement effect of the three-mode redundancy is verified.
【作者單位】： 哈爾濱工業(yè)大學(xué)微電子中心;
【分類號】：TP333;TN791

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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