本文關(guān)鍵詞： 內(nèi)自建測試 內(nèi)自建軟修復(fù) 內(nèi)自建硬修復(fù) e-fuse box　出處：《微電子學(xué)與計算機》2015年05期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：為了克服嵌入式存儲器故障對整個SOC系統(tǒng)的影響,采用基于存儲冗余單元的嵌入式存儲器軟修復(fù)技術(shù).針對軟修復(fù)技術(shù)修復(fù)符號信息易丟失的缺點,使用e-fuse box保存修復(fù)信息的硬修復(fù)技術(shù).通過比較separated fuse-box與centralized fuse-box電路結(jié)構(gòu)的優(yōu)缺點,提出了含有reg_bank模塊的centralized fuse-box電路結(jié)構(gòu),從而節(jié)省了芯片的面積,提高了解壓縮修復(fù)的速度.實驗證明,該fuse-box結(jié)構(gòu)所占芯片面積相對separated fuse-box結(jié)構(gòu)所占的芯片面積節(jié)省47.88%.而該fuse-box結(jié)構(gòu)相對傳統(tǒng)centralized fuse-box結(jié)構(gòu),其修復(fù)信息的解壓縮修復(fù)時間減少為centralized fuse-box結(jié)構(gòu)解壓縮修復(fù)時間的26.91%.研究得出的結(jié)論已經(jīng)在實際產(chǎn)品中獲得驗證,可廣泛應(yīng)用于SOC設(shè)計.
[Abstract]:In order to overcome the influence of the embedded memory fault on the whole SOC system , the embedded memory soft - repair technology based on the storage redundancy unit is adopted . The structure of the fuse - box circuit which contains the reg _ bank module is saved by comparing the advantages and disadvantages of the separated fuse - box and the fuse - box circuit structure . The experiment proves that the fuse - box structure occupies 47.88 % of the chip area of the fuse - box structure . The experimental results show that the fuse - box structure has a relative separated fuse - box structure , and the decompression and repair time of the fuse - box structure is reduced to 26.91 % of the decompression repair time of the fuse - box structure . The conclusion reached that the fuse - box structure has been verified in the actual product , and can be widely applied to SOC design .

【作者單位】： 西安交通大學(xué)電信學(xué)院;
【基金】：國家自然科學(xué)基金(91123918)
【分類號】：TP333

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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本文編號：1513199