本文關鍵詞： 內自建測試 內自建軟修復 內自建硬修復 e-fuse box　出處：《微電子學與計算機》2015年05期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：為了克服嵌入式存儲器故障對整個SOC系統(tǒng)的影響,采用基于存儲冗余單元的嵌入式存儲器軟修復技術.針對軟修復技術修復符號信息易丟失的缺點,使用e-fuse box保存修復信息的硬修復技術.通過比較separated fuse-box與centralized fuse-box電路結構的優(yōu)缺點,提出了含有reg_bank模塊的centralized fuse-box電路結構,從而節(jié)省了芯片的面積,提高了解壓縮修復的速度.實驗證明,該fuse-box結構所占芯片面積相對separated fuse-box結構所占的芯片面積節(jié)省47.88%.而該fuse-box結構相對傳統(tǒng)centralized fuse-box結構,其修復信息的解壓縮修復時間減少為centralized fuse-box結構解壓縮修復時間的26.91%.研究得出的結論已經在實際產品中獲得驗證,可廣泛應用于SOC設計.
[Abstract]:In order to overcome the influence of the embedded memory fault on the whole SOC system , the embedded memory soft - repair technology based on the storage redundancy unit is adopted . The structure of the fuse - box circuit which contains the reg _ bank module is saved by comparing the advantages and disadvantages of the separated fuse - box and the fuse - box circuit structure . The experiment proves that the fuse - box structure occupies 47.88 % of the chip area of the fuse - box structure . The experimental results show that the fuse - box structure has a relative separated fuse - box structure , and the decompression and repair time of the fuse - box structure is reduced to 26.91 % of the decompression repair time of the fuse - box structure . The conclusion reached that the fuse - box structure has been verified in the actual product , and can be widely applied to SOC design .

【作者單位】： 西安交通大學電信學院;
【基金】：國家自然科學基金(91123918)
【分類號】：TP333

【參考文獻】

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本文編號：1513199