本文關鍵詞： 容軟錯誤 量化評估 評估方法 微處理器 可靠性　出處：《國防科技大學學報》2017年03期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：針對高可靠微處理器軟容錯設計,提出了一種新的可靠性度量標準,增強的平均無失效工作量,以解決現(xiàn)有度量標準沒有綜合考慮性能、面積、功耗開銷帶來的可靠性降低的缺點;提出了一種評估方法對增強的平均無失效工作量以及兩種控制流檢測技術進行定量評估。評估結果表明,軟硬件結合的控制流檢測技術較好地折中了可靠性、性能、面積和功耗。量化評估指標全面考慮了多種開銷對微處理器可靠性的影響,采用相應的評估方法可以更加準確地對微處理器可靠性加固手段進行定量評估,以指導設計探索和設計優(yōu)化。
[Abstract]:In order to solve the problem of high reliability microprocessor soft fault-tolerant design, a new reliability metric is proposed, which increases the average no-failure workload to solve the problem that the existing metrics do not comprehensively consider the performance and area. The disadvantages of low reliability caused by power consumption overhead; An evaluation method is proposed to quantitatively evaluate the enhanced average no-failure workload and two control flow detection techniques. The evaluation results show that the software and hardware combined with the control flow detection technology have achieved a good compromise of reliability. Performance, area and power consumption. The quantitative evaluation takes into account the impact of multiple overhead on microprocessor reliability. The quantitative evaluation of microprocessor reliability reinforcement means can be carried out more accurately by using the corresponding evaluation method to guide the design exploration and design optimization.
【作者單位】： 國防科技大學計算機學院;
【基金】：國家自然科學基金資助項目(61202123,61202122,61402497)
【分類號】：TP332
【正文快照】： 應用于復雜電磁環(huán)境的集成電路受到高能粒子轟擊,會發(fā)生瞬時充放電,使得邏輯狀態(tài)發(fā)生翻轉,這種由高能粒子轟擊所引發(fā)的錯誤被稱為“軟錯誤”。高可靠微處理器一般采用多種容軟錯誤設計技術。這些容軟錯誤設計在提高微處理器可靠性的同時,不可避免地帶來了性能、面積、功耗的開

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