OTP存儲器存儲單元內(nèi)寄生電容對讀取閾值的影響
本文關鍵詞:OTP存儲器存儲單元內(nèi)寄生電容對讀取閾值的影響 出處:《電子設計工程》2016年02期 論文類型:期刊論文
【摘要】:在OTP存儲器的設計中,基于得到OTP存儲器存儲單元編程后盡可能大的讀取閾值的目的,以提高OTP存儲器的編程效率和芯片成品率,采用了消除存儲單元內(nèi)寄生電容的方法,通過對OTP存儲器存儲單元內(nèi)帶寄生電容和不帶寄生電容兩種情況下的仿真以及對比,可以發(fā)現(xiàn)存儲單元內(nèi)寄生電容的存在會使OTP存儲器編程后的讀取閾值減少8 kΩ左右,所以在OTP存儲器的設計中,應盡可能消除掉存儲單元內(nèi)的寄生電容,獲得盡可能大的讀取閾值。
[Abstract]:In the design of OTP memory, in order to improve the programming efficiency and chip yield of OTP memory, the purpose is to obtain the maximum read threshold after programming of OTP memory cell. The method of eliminating parasitic capacitance in memory cell is used to simulate and compare the parasitic capacitance with or without parasitic capacitance in the memory cell of OTP memory. It can be found that the existence of parasitic capacitance in memory cells will reduce the reading threshold of OTP memory by about 8k 惟 after programming, so it is in the design of OTP memory. The parasitic capacitance in the memory cell should be eliminated as much as possible and the maximum read threshold should be obtained.
【作者單位】: 電子科技大學電子薄膜與集成器件國家重點實驗室;
【基金】:國家自然科學基金項目(61404021)
【分類號】:TP333
【正文快照】: OTP(one time programmable)存儲器[1]作為只可以編程一次的非易失性存儲器具有集成度高、存取速度快等特點,在航空航天、軍工等對抗輻照、保密特性要求很高的領域中,起著不可替代的作用[2]。OTP存儲器的種類很多,很多是基于熔絲和反熔絲,本文介紹的OTP存儲器基于反熔絲結(jié)構(gòu)[3
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,本文編號:1378832
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