本文關(guān)鍵詞：基于BCH算法的高速緩存糾檢錯方案研究

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【摘要】：針對抗輻射微處理器的容錯需求,特別是在高速緩存中由單粒子效應(yīng)造成的多位翻轉(zhuǎn)故障,設(shè)計了一種高速緩存糾檢錯方案,以LEON2處理器為研究平臺,分別對指令Cache和數(shù)據(jù)Cache的標(biāo)記存儲器和數(shù)據(jù)存儲器設(shè)計并行的BCH編碼器和譯碼器,實現(xiàn)多達(dá)4位錯誤的檢測.針對檢測到的多位錯誤,利用存儲層次特征,實現(xiàn)對故障的有效規(guī)避.以LEON2處理器為研究平臺的仿真結(jié)果證明,該方案能夠有效應(yīng)對高速緩存中單粒子效應(yīng)所引發(fā)的多位錯誤,并且方案的資源開銷和性能開銷都比較小,為未來納米級微處理器的容錯設(shè)計提供了支撐.
【作者單位】： 首都師范大學(xué)信息工程學(xué)院;唐山現(xiàn)代工控技術(shù)有限公司;北京成像技術(shù)高精尖創(chuàng)新中心;電子系統(tǒng)可靠性技術(shù)北京市重點實驗室;
【基金】：國家自然科學(xué)基金項目(61472260,61402302,61502321) 北京市屬高等學(xué)校創(chuàng)新團(tuán)隊建設(shè)與教師職業(yè)發(fā)展計劃項目(IDHT20150507)
【分類號】：TP333;TP332
【正文快照】： 1引言單粒子效應(yīng)[1]是空間應(yīng)用發(fā)生故障和工作異常的重要誘因之一.隨著半導(dǎo)體器件特征尺寸的減小、工作頻率的上升和節(jié)點電壓的降低,單個粒子引起的故障表現(xiàn)形式更為復(fù)雜,由此引發(fā)的多位翻轉(zhuǎn)(Multiple Bit Upset,MBU)通常會導(dǎo)致2-4位錯誤[2],最多8位隨機(jī)翻轉(zhuǎn)錯誤.可見MBU比起S

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