本文關(guān)鍵詞：中強度高導(dǎo)電率Al-Mg-Si合金導(dǎo)線的研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：中強度高導(dǎo)電率Al-Mg-Si合金導(dǎo)線的導(dǎo)電率與抗拉強度主要受合金化與時效工藝兩種因素影響，通過研究不同含量Mg、Si元素在不同時效條件下的微觀狀態(tài)，對試樣的電阻率、抗拉強度進行對比分析，發(fā)現(xiàn)時效時間過長、溫度過高或Mg、Si元素增多都會引起試樣電阻率升高，其抗拉強度隨合金元素增多而增大，隨時效時間延長先升高后下降。 人工時效后，實驗試樣中析出具有獨立晶格結(jié)構(gòu)的Mg2Si強化相，部分Si與少量Fe在Al中可以形成AlFeSi相，與Mg2Si依附析出，可以鈍化Mg2Si尖角，減少應(yīng)力集中導(dǎo)致的晶間腐蝕，進而提高合金的抗拉強度與導(dǎo)電率。當(dāng)Mg、Si含量較多時，Mg2Si強化相密度較大，在成形過程中易在合金導(dǎo)線中形成中心裂紋，降低其抗拉強度，但對其導(dǎo)電率影響不大。 Al-Mg-Si合金導(dǎo)線性能的理論分析中發(fā)現(xiàn)，在MИTИCCEH-ΦИЛEMHГ規(guī)則基礎(chǔ)上，引入空位對Al-Mg-Si合金導(dǎo)線電阻率的影響，可將導(dǎo)線電阻率的理論計算誤差率由13.3%降至3.6%，提高了對合金導(dǎo)線電阻率的預(yù)計算能力。經(jīng)過高溫擠壓成形，基體中大量空位消失，因此可在保證導(dǎo)電率的情況下，有效的提升Al-Mg-Si合金試樣的抗拉強度；人工時效后，大量Mg2Si強化相析出，起到彌散強化效果，理論計算認(rèn)為這兩種強化方法是最有效的強化手段。通過優(yōu)化合金成分及時效工藝，制備出了一種中強度高導(dǎo)電率Al-Mg-Si合金導(dǎo)線，導(dǎo)電率為60.6%IACS時，強度達到了230MPa，，其綜合性能高于目前普遍應(yīng)用的中強度高導(dǎo)電率鋁合金導(dǎo)線。
【關(guān)鍵詞】：合金化 時效工藝 導(dǎo)電率 抗拉強度 MИTИCCEH-ΦИЛEMHГ規(guī)則
【學(xué)位授予單位】：沈陽工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號】：TG146.21
【目錄】：

• 摘要4-5
• Abstract5-8
• 第1章 緒論8-19
• 1.1 鋁合金導(dǎo)線應(yīng)用概況8-9
• 1.2 國內(nèi)鋁及鋁合金導(dǎo)線研究及發(fā)展9-10
• 1.3 國外鋁及鋁合金導(dǎo)線研究及發(fā)展10-11
• 1.4 鋁合金導(dǎo)線的制備11-17
• 1.4.1 鋁合金導(dǎo)線制備工藝11-13
• 1.4.2 合金元素對鋁合金導(dǎo)線性能的影響13-17
• 1.5 鋁合金導(dǎo)線存在問題、研究目標(biāo)及內(nèi)容17-19
• 1.5.1 鋁合金導(dǎo)線存在的問題17
• 1.5.2 鋁合金導(dǎo)線目標(biāo)及內(nèi)容17-19
• 第2章 實驗過程與研究方法19-26
• 2.1 實驗內(nèi)容19-24
• 2.1.1 實驗原料選擇與成分設(shè)計19
• 2.1.2 實驗材料及設(shè)備19-21
• 2.1.3 實驗工藝流程及參數(shù)設(shè)計21-24
• 2.2 拉伸試樣制備24
• 2.3 常溫下單向拉伸試驗24
• 2.4 實驗及測試方法24-26
• 2.4.1 金相試樣制備方法24-25
• 2.4.2 金相觀察及成分測定25-26
• 第3章 Al-Mg-Si 合金導(dǎo)線組織性能分析26-41
• 3.1 實驗測試結(jié)果26-29
• 3.1.1 Al-Mg-Si 合金導(dǎo)線電學(xué)性能測試26-27
• 3.1.2 Al-Mg-Si 合金導(dǎo)線力學(xué)性能測試27-28
• 3.1.3 Al-Mg-Si 合金成分測試結(jié)果28-29
• 3.2 合金化對 Al-Mg-Si 合金導(dǎo)線性能的影響29-34
• 3.2.1 合金化對 Al-Mg-Si 合金導(dǎo)線導(dǎo)電性能的影響29-32
• 3.2.2 合金化對 Al-Mg-Si 合金導(dǎo)線力學(xué)性能的影響32-34
• 3.3 時效處理對 Al-Mg-Si 合金導(dǎo)線性能的影響34-41
• 3.3.1 時效處理對 Al-Mg-Si 合金導(dǎo)線電學(xué)性能的影響34-36
• 3.3.2 時效處理對 Al-Mg-Si 合金導(dǎo)線力學(xué)性能的影響36-41
• 第4章 Al-Mg-Si 合金導(dǎo)線性能理論分析41-51
• 4.1 Al-Mg-Si 合金導(dǎo)線電阻率數(shù)學(xué)模型的建立41-47
• 4.1.1 MИTИCCEH-ΦИЛEMHГ規(guī)則研究及計算41-43
• 4.1.2 MИTИCCEH-ΦИЛEMHГ規(guī)則修正及分析43-47
• 4.2 Al-Mg-Si 合金導(dǎo)線強度性能理論分析47-51
• 4.2.1 晶粒尺寸強化效果分析47-48
• 4.2.2 彌散強化效果分析48-49
• 4.2.3 形變強化效果分析49-51
• 第5章 結(jié)論51-52
• 參考文獻52-56
• 在學(xué)研究成果56-57
• 致謝57

【參考文獻】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條

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6 李晶;金曼;費s

本文編號：283109