發(fā)布時間：2022-01-08 23:37

　　為了解決有限口徑下,尚需采用雙/多模復(fù)合制導(dǎo)探測的問題,從干涉儀測向的基本原理出發(fā),提出了一種高精度、無模糊非均勻圓陣列干涉儀測向天線系統(tǒng)設(shè)計方法,該方法基于參差基線解模糊的思想,布設(shè)單元天線。數(shù)學(xué)分析和仿真結(jié)果均表明該方法合理有效可行。 

【文章來源】：現(xiàn)代防御技術(shù). 2020,48(02)

【文章頁數(shù)】：5 頁

【部分圖文】：

合成角誤差

如圖1所示是由2個天線組成的單基線干涉儀，平面電磁波從與天線口面夾角為θ的方向入射到天線1,2，電磁波到達(dá)2個天線的波程差為dcosθ，則由波程差引起的相位差為通過鑒相器得到的相位差φ應(yīng)為區(qū)間[-π，π]中的一定值，但當(dāng)基線長度，則將會產(chǎn)生[2n-π，2n+π]，n∈Z的現(xiàn)象，即為測角模糊現(xiàn)象。

如圖2所示是圓陣列干涉儀天線系統(tǒng)，在雷達(dá)導(dǎo)引頭測量坐標(biāo)系中，天線1,2,3,4分布在半徑為r的圓周上，其坐標(biāo)分別為(0,r,0),(0,0,-r),(0,-r,0),(0,0,r);為了獲得最大的角精度，則必將利用d13,d24作為基線進(jìn)行相位差測角。根據(jù)上述干涉儀測角原理，可知兩對干涉儀的輸出將會出現(xiàn)測角模糊現(xiàn)象。2 改進(jìn)型圓陣列無模糊長基線干涉儀測向的天線系統(tǒng)設(shè)計

【參考文獻(xiàn)】：
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本文編號：3577494