論文通過對某電點(diǎn)火具封接玻璃貯存過程中出現(xiàn)裂紋的原因進(jìn)行了分析與研究,并進(jìn)行了相關(guān)驗(yàn)證試驗(yàn)。經(jīng)分析,封接玻璃與金屬封接之后,貯存過程中并不會(huì)出現(xiàn)裂紋;當(dāng)作為零部件進(jìn)行裝配后,若封接玻璃所能承受的最大破壞力與裝配力接近,且在后續(xù)貯存過程中持續(xù)受到應(yīng)力作用時(shí),會(huì)逐漸產(chǎn)生裂紋,導(dǎo)致產(chǎn)品缺陷的產(chǎn)生。為同類產(chǎn)品以及使用封接玻璃零部件的產(chǎn)品設(shè)計(jì)提供了參考。 

【文章來源】：艦船電子工程. 2020,40(10)

【文章頁數(shù)】：3 頁

【部分圖文】：

封接玻璃靜態(tài)破壞力試驗(yàn)方案表1驗(yàn)證試驗(yàn)

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號：3482012