硬目標(biāo)侵徹試驗(yàn)柔性數(shù)據(jù)傳輸技術(shù)研制的目的是為了驗(yàn)證侵徹彈藥在侵徹試驗(yàn)過程中的數(shù)據(jù)發(fā)送系統(tǒng)，為彈藥性能的分析評定和改進(jìn)設(shè)計(jì)方案提供依據(jù)。為了記錄彈藥在侵徹試驗(yàn)中的數(shù)據(jù)，采用最直接的也是最簡單的數(shù)字通信系統(tǒng)來獲取試驗(yàn)數(shù)據(jù)。在了解國內(nèi)外侵徹?cái)?shù)據(jù)測試系統(tǒng)的發(fā)展趨勢和研究現(xiàn)狀的基礎(chǔ)上，提出了硬目標(biāo)侵徹試驗(yàn)柔性數(shù)據(jù)傳輸?shù)目傮w設(shè)計(jì)方案。整個系統(tǒng)是由數(shù)據(jù)發(fā)送單元、存儲單元和地面計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)組成。把系統(tǒng)的發(fā)送單元安裝在侵徹彈藥的某一固定位置，使得在侵徹過程中將已存入發(fā)送單元的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確無誤的傳輸?shù)酱鎯ζ髦�，試�?yàn)結(jié)束后，回收存儲器并讀取內(nèi)部數(shù)據(jù)，從而驗(yàn)證試驗(yàn)數(shù)據(jù)是否能在復(fù)雜的侵徹過程中正確傳輸。本文主要介紹了系統(tǒng)的設(shè)計(jì)原理，分析了侵徹彈藥的發(fā)送存儲系統(tǒng)設(shè)計(jì)中遇到的困難，并提出了解決方案對其進(jìn)行改進(jìn)，并詳細(xì)敘述了電路設(shè)計(jì)中數(shù)據(jù)發(fā)生器和記錄器的每個模塊的硬件設(shè)計(jì)。針對準(zhǔn)確無誤的數(shù)據(jù)傳輸過程，系統(tǒng)采用STC12LE4052AD單片機(jī)控制整個系統(tǒng)的邏輯，從而提高了系統(tǒng)的實(shí)用性，集成度和耐用性；W25X16作為存儲介質(zhì)，最小化存儲模塊的設(shè)計(jì)，重點(diǎn)對其結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)進(jìn)行保護(hù)，并在設(shè)計(jì)過程中縮減系統(tǒng)的體積，以擴(kuò)展數(shù)據(jù)保留時(shí)間... 

【文章來源】：中北大學(xué)山西省

【文章頁數(shù)】：80 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

STC12C2052AD內(nèi)部結(jié)構(gòu)框圖

中北大學(xué)學(xué)位論文28圖3.3 串行口模式1接收/發(fā)送時(shí)序圖發(fā)送過程模式1：發(fā)送串行通信的方式，從TXD輸出的串行發(fā)送數(shù)據(jù)。當(dāng)主機(jī)執(zhí)行寫“SBUF”命令來時(shí)開始發(fā)送串行通信，寫上“1”成也發(fā)送移位寄存器的第九位串行數(shù)據(jù)緩沖器的“信號”，并通知發(fā)送控制單元發(fā)送。移位寄存器將繼續(xù)向發(fā)送端口右移發(fā)送數(shù)據(jù)，在左端的數(shù)據(jù)也不斷進(jìn)入“0”作為補(bǔ)充。當(dāng)最高位數(shù)據(jù)移位到寄存器的輸出端，其次是第9位“1”，在左邊所有位全為“0”，這種情況下，最后一個移位輸出到控制單元，然后將信號發(fā)送到允許“發(fā)送”失敗

LED_DS圖3.4 STC12LE4052AD芯片圖3.5 發(fā)送系統(tǒng)實(shí)物圖第一引腳RST復(fù)位信號的輸入端。復(fù)位信號是高電平有效，其有效時(shí)間應(yīng)持續(xù)24個振蕩脈沖周期（即兩個機(jī)器周期）以上。若使用頻率為6MHz的晶振，則復(fù)位信號持續(xù)時(shí)間應(yīng)超過4μ s才能完成復(fù)位操作。第4、5引腳分別是XTAL1、XTAL2，只需要在片外通過XTAL和1XTAL2引腳接入定時(shí)控制元件（晶體振蕩器和電容），即可構(gòu)成一個穩(wěn)定的自激振蕩器。第14、15、16、17、18、19都可作為標(biāo)準(zhǔn)I/O口用分與存儲芯片的HOLD、CS1、CS2、MOSI、MISO、CLK連接完成單片機(jī)到存儲器的數(shù)據(jù)傳輸。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號：3454289