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導(dǎo)彈武器系統(tǒng)貯存環(huán)境監(jiān)測(cè)及貯存可靠性評(píng)定方法研究

發(fā)布時(shí)間:2021-04-11 01:43
  導(dǎo)彈武器系統(tǒng)是投資巨大、長(zhǎng)期貯存、一次性使用的裝備。在長(zhǎng)時(shí)間的貯存過程中,主要受溫度、濕度、機(jī)械應(yīng)力等環(huán)境應(yīng)力作用,其失效機(jī)理一般為氧化、老化、性能退化等緩慢的化學(xué)、物理變化過程。導(dǎo)彈武器貯存可靠性是非工作狀態(tài)下的固有可靠性。研究導(dǎo)彈武器的貯存可靠性的目的在于科學(xué)評(píng)價(jià)和預(yù)測(cè)其可靠性,找出貯存失效規(guī)律,及時(shí)排除故障隱患,有效確保部隊(duì)?wèi)?zhàn)斗力,直接關(guān)系到國(guó)家安全和社會(huì)穩(wěn)定。為研究導(dǎo)彈武器裝備的貯存可靠性和強(qiáng)化武器彈藥倉(cāng)庫(kù)的管理水平提供技術(shù)支持。因此,本文的研究成果具有一定的學(xué)術(shù)意義和重要的戰(zhàn)略意義。本文首先從導(dǎo)彈武器裝備貯存環(huán)境監(jiān)測(cè)入手,設(shè)計(jì)了以AVR單片機(jī)為核心的導(dǎo)彈貯存環(huán)境數(shù)據(jù)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)具有功耗低、重量輕、存儲(chǔ)量大、成本低、便于優(yōu)化和擴(kuò)展等優(yōu)點(diǎn),解決了數(shù)據(jù)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)普遍存在的重量大、成本高、更新?lián)Q代慢等問題,實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)傳輸?shù)闹悄芑。其次,介紹了基于Delphi開發(fā)平臺(tái)的環(huán)境數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)的上位機(jī)設(shè)計(jì),通過大量的實(shí)驗(yàn)測(cè)試驗(yàn)證,系統(tǒng)能夠?qū)崟r(shí)、準(zhǔn)確、可靠的采集與管理貯存環(huán)境數(shù)據(jù)和信息。然后分析導(dǎo)彈武器裝備失效規(guī)律,采用物理模型解析和統(tǒng)計(jì)分析相結(jié)合的可靠性預(yù)測(cè)方法,對(duì)小子樣條件下貯存... 

【文章來源】:哈爾濱理工大學(xué)黑龍江省

【文章頁數(shù)】:56 頁

【學(xué)位級(jí)別】:碩士

【文章目錄】:
摘要
Abstract
第1章 緒論
    1.1 課題研究的背景及意義
    1.2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
    1.3 研究的主要內(nèi)容
第2章 導(dǎo)彈貯存環(huán)境監(jiān)測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)
    2.1 環(huán)境影響因子分析
        2.1.1 導(dǎo)彈貯存可靠性的環(huán)境影響因子
        2.1.2 環(huán)境因子對(duì)可靠性的影響
    2.2 數(shù)據(jù)采集模塊的硬件設(shè)計(jì)
        2.2.1 溫度傳感器
        2.2.2 濕度傳感器
        2.2.3 數(shù)據(jù)采集模塊設(shè)計(jì)
    2.3 上位機(jī)管理
    2.4 本章小結(jié)
第3章 導(dǎo)彈貯存可靠性 Bayes 統(tǒng)計(jì)分析
    3.1 導(dǎo)彈貯存可靠性的主要參數(shù)
        3.1.1 導(dǎo)彈貯存可靠度
        3.1.2 導(dǎo)彈的可靠貯存壽命
    3.2 Bayes 方法
        3.2.1 概論
        3.2.2 Bayes 方法應(yīng)用步驟
        3.2.3 驗(yàn)前分布
        3.2.4 驗(yàn)后分布
        3.2.5 根據(jù)驗(yàn)后分布統(tǒng)計(jì)推斷
    3.3 導(dǎo)彈貯存可靠性 Bayes 估計(jì)
        3.3.1 基本假設(shè)
        3.3.2 導(dǎo)彈貯存可靠性 Bayes 模型
        3.3.3 先驗(yàn)分布參數(shù)的確定
    3.4 單次試射可靠性 Bayes 置信限
    3.5 多次試射可靠性 Bayes 置信限
        3.5.1 多次試射試驗(yàn)信息的融合
        3.5.2 多次試射的可靠性評(píng)估
    3.6 數(shù)值例
    3.7 本章小結(jié)
第4章 系統(tǒng)可靠性評(píng)估
    4.1 導(dǎo)彈組成單元物理模型
        4.1.1 導(dǎo)彈組成單元分類
        4.1.2 性能退化單元可靠性模型
        4.1.3 定期檢測(cè)單元可靠性模型
    4.2 導(dǎo)彈系統(tǒng)貯存可靠性綜合
        4.2.1 L-M 法簡(jiǎn)介
        4.2.2 系統(tǒng)可靠性綜合
    4.3 數(shù)值例
    4.4 本章小結(jié)
結(jié)論
參考文獻(xiàn)
攻讀學(xué)位期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文
致謝


【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]故障分類時(shí)環(huán)境強(qiáng)化試驗(yàn)的可靠度近似置信限[J]. 郭建英,孫永全,王銘義,陳洪科.  儀器儀表學(xué)報(bào). 2010(12)
[2]國(guó)外導(dǎo)彈貯存試驗(yàn)技術(shù)概述[J]. 朱冰宇,戰(zhàn)學(xué)民,張興有.  飛航導(dǎo)彈. 2009(10)
[3]濕度傳感器的選用及發(fā)展趨勢(shì)[J]. 喻曉莉,楊健,倪彥.  自動(dòng)化技術(shù)與應(yīng)用. 2009(02)
[4]基于MSP430和SD卡的FAT16文件系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[J]. 羅小剛,張焱,彭承琳.  電子技術(shù)應(yīng)用. 2008(11)
[5]基于SPI協(xié)議的SD卡讀寫機(jī)制與實(shí)現(xiàn)方法[J]. 張洪濤,莫文承,李兵兵.  電子元器件應(yīng)用. 2008(03)
[6]阿倫尼斯模型研究[J]. 林震,姜同敏,程永生,胡斌.  電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn). 2005(06)
[7]電子元器件的貯存可靠性及評(píng)價(jià)技術(shù)[J]. 楊丹,恩云飛,黃云.  電子元件與材料. 2005(07)
[8]用貝葉斯統(tǒng)計(jì)推斷進(jìn)行系統(tǒng)可靠性分析的方法[J]. 王進(jìn)才,張宏斌,劉永新.  電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn). 2004(04)
[9]基于步進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)的引信貯存壽命評(píng)估[J]. 鄭波,葛廣平.  北京理工大學(xué)學(xué)報(bào). 2003(05)
[10]導(dǎo)彈貯存可靠性評(píng)估[J]. 劉春和,陸祖建,袁玉華.  數(shù)學(xué)的實(shí)踐與認(rèn)識(shí). 2001(04)

博士論文
[1]產(chǎn)品可靠性評(píng)估中的多源信息融合技術(shù)研究[D]. 方艮海.合肥工業(yè)大學(xué) 2006

碩士論文
[1]加速壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)管理與解析系統(tǒng)研究[D]. 唐元天.哈爾濱理工大學(xué) 2007



本文編號(hào):3130713

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