共晶、缺陷和納米炸藥結(jié)構(gòu)與性質(zhì)的理論研究
發(fā)布時(shí)間:2020-12-27 05:48
炸藥晶體中分子所處的微觀環(huán)境對(duì)其結(jié)構(gòu)、性質(zhì)以及其對(duì)外部刺激的響應(yīng)有非常重要的影響。本論文運(yùn)用密度泛函理論(DFT)、密度泛函緊束縛(DFTB)和DFTB分子動(dòng)力學(xué)(DFTB-MD)方法,系統(tǒng)研究了高壓下理想晶體TEX(4,10-二硝基-2,6,8,12-四氧雜-4,10-二氮雜四環(huán)-[5.5.0.05,903,11]-十二烷)、共晶炸藥CL-20(2,4,6,8,10,12-六硝基-2,4,6,8,10,12-六氮雜異伍茲烷):HMX(],3,5,7-四硝基-1,3,5,7-四氮雜環(huán)辛烷)和含空位缺陷NTO(5-硝基-3-氧-2,4-二-H-二氫化-1,2,4-三唑)的晶體結(jié)構(gòu)、能量性質(zhì)、電子結(jié)構(gòu)、光學(xué)性質(zhì)和力學(xué)性能;研究了含孿晶缺陷HMX、HMX納米顆粒和TATB(1,3,5-三氨基-2,4,6-三硝基苯)納米顆粒的結(jié)構(gòu)、能量性質(zhì)、電子結(jié)構(gòu)和振動(dòng)性質(zhì),以及高溫下HMX納米顆粒的初始分解機(jī)理和宏觀反應(yīng)動(dòng)力學(xué)。其主要內(nèi)容包括以下四個(gè)部分:(一)理想晶體TEX、共晶炸藥CL-20:HMX和含空位缺陷NTO晶體的高壓行為運(yùn)用周期性DFT方法,研究了 0-100 GPa下TEX晶體的幾何結(jié)構(gòu)、...
【文章來源】:南京理工大學(xué)江蘇省 211工程院校
【文章頁(yè)數(shù)】:138 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:博士
【部分圖文】:
TEX晶體的單胞結(jié)構(gòu)和原子序數(shù)
?C#〇6H6?\??\?H2?!?c4?〇A??1??]a?xI??圖3.1?TEX晶體的單胞結(jié)構(gòu)和原子序數(shù)??3.2晶體結(jié)構(gòu)??為驗(yàn)證計(jì)算方法的可靠性,在OGPa下,分別采用三種方法優(yōu)化TEX的晶體結(jié)構(gòu),??艮P?LDA/CA-PZ泛函和共軛梯度近似(GGA)中PBE和PW9]泛函(GGA/PBE和??GGA/PW91)?表3.1列出不同計(jì)算方法得到的TEX晶胞參數(shù)以及實(shí)驗(yàn)值。由表??3.1可見,LDA/CA-PZ方法計(jì)算值相比GGA方法與實(shí)驗(yàn)值更接近,且GGA方法都高??估了晶格參數(shù)。許多研究表明,采用GGA方法高估含能晶體RDX、TATB和季戊四醇??四硝酸酯(PETN)的晶格參數(shù),而LDA方法一般則低估[1()7]。這與我們的結(jié)果一致。???表3.1?0?GPa下丁£X晶胞參數(shù)的計(jì)算值與實(shí)驗(yàn)值???方法?,,??晶胞參數(shù)?實(shí)驗(yàn)值丨丨叫???LDA/CA-PZ?
3?a)玉下TEX晶體的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)?博士學(xué)位論文??變:其鍵角和體積在此突變處也不連續(xù)。突變后其晶格參數(shù)收縮趨勢(shì)顯著降低。兩種泛??函預(yù)測(cè)的〇:、0和y隨著壓力增加而增加,且在35-40?GPa處增加最快,隨后在61?GPa??(或62?GPa)處發(fā)生突變。考慮到PBE-D與其他兩種方法預(yù)測(cè)的結(jié)果接近,且更接近??PBE方法的計(jì)算值,因此本章主要采用CA-PZ方法研究TEX晶體的高壓行為。??如圖3.2a所示,TEX單胞體積在61?GPa或62?GPa處突變,其體積分別增加0.24°/。??(CA-PZ)或0.15%?(PBE)。這是因?yàn)樵谕蛔兾恢锰幘Ц癯?shù)6顯著增加的緣故。圖??3.3給出突變前后TEX分子位置的變化。如圖3.3所示,晶胞內(nèi)分子間相對(duì)位移沿軸??發(fā)生約1?A的突變,并伴隨著N-N02形變。為研究晶體中突變是否為一階突變,通常需??要由其結(jié)構(gòu)參數(shù)、體積變化和放熱來綜合判斷^圖3.4給出高壓下TEX的焓變(J//)。??體系的焓值定義為其中和F分別為晶胞總能、壓力和體積。由圖??3.4可見,體系的在突變處有較明顯的增加,表明體系結(jié)構(gòu)突變時(shí)吸熱。??Q?61?GPa
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]Banding and electronic structures of metal azides——Sensitivity and conductivity[J]. 肖鶴鳴,李永富. Science in China,Ser.B. 1995(05)
本文編號(hào):2941209
【文章來源】:南京理工大學(xué)江蘇省 211工程院校
【文章頁(yè)數(shù)】:138 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:博士
【部分圖文】:
TEX晶體的單胞結(jié)構(gòu)和原子序數(shù)
?C#〇6H6?\??\?H2?!?c4?〇A??1??]a?xI??圖3.1?TEX晶體的單胞結(jié)構(gòu)和原子序數(shù)??3.2晶體結(jié)構(gòu)??為驗(yàn)證計(jì)算方法的可靠性,在OGPa下,分別采用三種方法優(yōu)化TEX的晶體結(jié)構(gòu),??艮P?LDA/CA-PZ泛函和共軛梯度近似(GGA)中PBE和PW9]泛函(GGA/PBE和??GGA/PW91)?表3.1列出不同計(jì)算方法得到的TEX晶胞參數(shù)以及實(shí)驗(yàn)值。由表??3.1可見,LDA/CA-PZ方法計(jì)算值相比GGA方法與實(shí)驗(yàn)值更接近,且GGA方法都高??估了晶格參數(shù)。許多研究表明,采用GGA方法高估含能晶體RDX、TATB和季戊四醇??四硝酸酯(PETN)的晶格參數(shù),而LDA方法一般則低估[1()7]。這與我們的結(jié)果一致。???表3.1?0?GPa下丁£X晶胞參數(shù)的計(jì)算值與實(shí)驗(yàn)值???方法?,,??晶胞參數(shù)?實(shí)驗(yàn)值丨丨叫???LDA/CA-PZ?
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【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]Banding and electronic structures of metal azides——Sensitivity and conductivity[J]. 肖鶴鳴,李永富. Science in China,Ser.B. 1995(05)
本文編號(hào):2941209
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