曳光彈測(cè)速中的測(cè)光技術(shù)
【學(xué)位單位】:西安工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位年份】:2017
【中圖分類】:TJ410.6
【文章目錄】:
摘要
Abstract
1 緒論
1.1 課題研究背景及意義
1.2 相關(guān)技術(shù)的發(fā)展和研究動(dòng)態(tài)
1.2.1 靶場(chǎng)測(cè)速技術(shù)的發(fā)展
1.2.2 曳光彈測(cè)速現(xiàn)狀與存在的問題
1.2.3 改善動(dòng)態(tài)范圍的研究現(xiàn)狀
1.3 本文工作及內(nèi)容安排
2 總體方案設(shè)計(jì)
2.1 探測(cè)光幕及彈尾曳光信號(hào)分析
2.1.1 探測(cè)光幕視場(chǎng)分析
2.1.2 曳光彈構(gòu)造及發(fā)光原理
2.1.3 曳光彈過幕信號(hào)特征
2.1.4 曳光彈測(cè)速失效分析
2.2 曳光彈速度測(cè)試總體方案
2.3 本章小結(jié)
3 對(duì)數(shù)放大電路設(shè)計(jì)
3.1 光電轉(zhuǎn)換部分設(shè)計(jì)
3.1.1 光電探測(cè)器件的選型
3.1.2 光電二極管搭接方式選擇
3.1.3 光電二極管接收陣列
3.2 前級(jí)耦合放大電路
3.3 對(duì)數(shù)放大電路設(shè)計(jì)
3.3.1 電壓型對(duì)數(shù)放大電路
3.3.2 電流型對(duì)數(shù)放大電路
3.4 后級(jí)放大跟隨
3.4.1 儀表放大器
3.4.2 跟隨驅(qū)動(dòng)
3.5 信號(hào)處理電路電源設(shè)計(jì)
3.6 自動(dòng)調(diào)零電路
3.6.1 自動(dòng)調(diào)零電路設(shè)計(jì)
3.6.2 自動(dòng)調(diào)零程序設(shè)計(jì)
3.7 本章小結(jié)
4 增益控制電路設(shè)計(jì)
4.1 增益控制電路設(shè)計(jì)
4.2 程序功能實(shí)現(xiàn)
4.2.1 增益自適應(yīng)
4.2.2 增益控制
4.3 本章小結(jié)
5 電路測(cè)試與測(cè)速誤差分析
5.1 對(duì)數(shù)特性測(cè)試
5.1.1 電壓型對(duì)數(shù)處理電路對(duì)數(shù)特性測(cè)試
5.1.2 電流型對(duì)數(shù)處理電路對(duì)數(shù)特性測(cè)試
5.2 電路動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試
5.2.1 電壓型對(duì)數(shù)放大電路動(dòng)態(tài)范圍測(cè)量
5.2.2 電流型對(duì)數(shù)放大電路動(dòng)態(tài)范圍測(cè)量
5.3 電壓型對(duì)數(shù)放大電路與電流型對(duì)數(shù)放大電路的比較
5.4 曳光信號(hào)模擬裝置設(shè)計(jì)
5.5 曳光測(cè)速測(cè)量誤差分析
5.5.1 時(shí)間相關(guān)算法分析
5.5.2 MATLAB信號(hào)仿真計(jì)算
5.6 實(shí)彈射擊試驗(yàn)
5.6.1 室內(nèi)氣槍彈測(cè)試
5.6.2 7.62mm實(shí)彈測(cè)試
5.7 本章小結(jié)
6 信號(hào)處理電路的可靠性分析
6.1 信號(hào)處理電路的可靠性設(shè)計(jì)方法
6.1.1 確定可靠性指標(biāo)
6.1.2 建立可靠性模型
6.1.3 元件計(jì)數(shù)法檢驗(yàn)可靠性指標(biāo)
6.2 測(cè)光靶信號(hào)處理電路可靠性分析
6.2.1 電路工作原理
6.2.2 可靠性模型的建立
6.2.3 元件計(jì)數(shù)法可靠性預(yù)計(jì)
6.3 電子元器件失效機(jī)理分析
6.3.1 電阻器的失效機(jī)理
6.3.2 電容器的失效機(jī)理
6.3.3 集成塊的失效模式與失效機(jī)理
6.4 小結(jié)
7 結(jié)論
7.1 總結(jié)
7.2 下一步工作和展望
參考文獻(xiàn)
攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表的論文
致謝
【參考文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):2835610
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