【摘要】：本文圍繞某防空武器系統(tǒng)中C波段火控雷達(dá)性能標(biāo)定和校準(zhǔn)的應(yīng)用背景,針對(duì)行軍狀態(tài)的沖擊振動(dòng)以及使用過(guò)程中有源器件老化或更換等導(dǎo)致的雷達(dá)電軸中心與武器系統(tǒng)光軸中心、火炮射擊散布中心等測(cè)量軸系中心偏移的技術(shù)問(wèn)題,開(kāi)展了雷達(dá)標(biāo)校源設(shè)計(jì)和研制工作,為雷達(dá)研制、使用和維護(hù)等全壽命周期的快速、精準(zhǔn)標(biāo)定提供了有力的技術(shù)支撐。C波段雷達(dá)標(biāo)校源基于矩形標(biāo)校法和頻率合成器技術(shù),試制出的雷達(dá)標(biāo)校源具有良好的環(huán)境適應(yīng)性、體積小、重量輕、架設(shè)方便,可有效對(duì)雷達(dá)光電軸和測(cè)距系統(tǒng)誤差進(jìn)行標(biāo)校,較好地解決了雷達(dá)外場(chǎng)標(biāo)校和基本功能測(cè)試的問(wèn)題,目前已通過(guò)鑒定,進(jìn)入小批量生產(chǎn)階段。本文主要工作內(nèi)容如下:1、研究雷達(dá)標(biāo)校的基本原理,針對(duì)各種標(biāo)校方法的優(yōu)缺點(diǎn),提出外同步混合頻率合成的標(biāo)校源總體技術(shù)方案,對(duì)標(biāo)校源涉及到的直接數(shù)字合成和鎖相環(huán)頻率合成進(jìn)行重點(diǎn)研究。2、雷達(dá)標(biāo)校源硬件電路模塊設(shè)計(jì),包括本振I鎖相環(huán)、本振II鎖相環(huán)、以太網(wǎng)物理收發(fā)器、數(shù)模轉(zhuǎn)換器、可編程門陣列以及上變頻鏈路等模塊的主要器部件選型和電路連接的設(shè)計(jì),展示了印制電路板的設(shè)計(jì)板圖和裝配完成的實(shí)物照片。3、雷達(dá)標(biāo)校源邏輯模塊設(shè)計(jì),介紹邏輯開(kāi)發(fā)環(huán)境,采用自頂向下的方法,簡(jiǎn)述頂層邏輯設(shè)計(jì),著重描述GM4704B、GM4384鎖相環(huán)配置、以太網(wǎng)通信、波形發(fā)生器等功能模塊的邏輯設(shè)計(jì)以及各功能模塊邏輯測(cè)試驗(yàn)證結(jié)果。4、雷達(dá)標(biāo)校源設(shè)計(jì)成果展示、指標(biāo)測(cè)試和功能驗(yàn)證,介紹了部分實(shí)驗(yàn)室測(cè)試結(jié)果,其中,輸出信號(hào)6660MHz連續(xù)波時(shí),單邊帶相位噪聲低于-93dBc/Hz@1kHz,雜散電平低于-66dB,各項(xiàng)指標(biāo)基本符合預(yù)期,滿足技術(shù)要求。雷達(dá)標(biāo)校源還與主雷達(dá)進(jìn)行了聯(lián)調(diào)聯(lián)試,統(tǒng)計(jì)結(jié)果表明,雷達(dá)標(biāo)校源可有效對(duì)雷達(dá)光電軸系和零距進(jìn)行標(biāo)定。
【圖文】：

電結(jié)合的設(shè)備，，光測(cè)設(shè)備一般采用經(jīng)緯儀，常采用；電測(cè)量設(shè)備主要是精密測(cè)量雷達(dá)、面，2012 年馬德里理工大學(xué)的 J.R.O.Fernand轉(zhuǎn)發(fā)式距標(biāo)校設(shè)備[9]，可通過(guò)選擇延遲不同的和測(cè)速誤差�？茖W(xué)和工業(yè)研究委員會(huì)（Council for Sciencerica，CSIR）的 Strydom J J 、Olivier K 等人利RCS 和散射特征模擬，用于雷達(dá)校準(zhǔn)和性能o- Digital Converter，ADC）和數(shù)模轉(zhuǎn)換器（D量化位數(shù)分別為 10/12 位，瞬時(shí)帶寬達(dá) 2GH深度 3ms，單通道最多模擬 12 個(gè)散射點(diǎn)。比勒陀利亞大學(xué)的 Monique Piena 等人研制出反射器，如圖 1-1 所示，重量不到 500g，等tion，RCS）10m2 [20]。

圖 2-1 雷達(dá)軸系矩形標(biāo)校法示意圖標(biāo)校設(shè)備可能存在調(diào)平或安裝誤差，進(jìn)而影響標(biāo)定精度，如圖與雷達(dá)中心距離為 d，雷達(dá)與標(biāo)校設(shè)備距離為 L，當(dāng)標(biāo)校設(shè)備存 時(shí)，引起的標(biāo)校誤差為：θe=atand-dcosθL+dsinθ圖 2-2 標(biāo)校設(shè)備傾角誤差示意圖ABCDθθedLC′
【學(xué)位授予單位】：電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2019
【分類號(hào)】：TJ5;TN958

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本文編號(hào)：2711415