【摘要】：引信作為彈藥系統(tǒng)的核心控制部件,其良好的性能,不僅能夠保證彈藥安全可靠,而且可以充分發(fā)揮彈藥的終端毀傷效果。作為引信性能評價的一把鋼尺,引信綜合測試系統(tǒng)已經(jīng)成為引信研發(fā)、生產(chǎn)、維修中不可或缺的一部分。隨著現(xiàn)代戰(zhàn)爭機動性、靈活性的不斷提高,未來戰(zhàn)爭對引信的保障時效性等提出了更高的要求,這就要求引信綜合測試系統(tǒng)在功能完備的前提下具有小型便攜、機動性好和可靠性高等特點。因此研制能夠?qū)σ胚M行全面可靠測試的便攜式引信綜合測試系統(tǒng)是十分必要的。本文在分析某系列引信測試需求的基礎(chǔ)上,結(jié)合合理的電路設(shè)計和軟件控制,設(shè)計了便攜式引信綜合測試系統(tǒng)。該測試系統(tǒng)具有一定的通用性,可以完成某系列下多種型號的引信測試。測試系統(tǒng)的主控芯片為STM32F103ZET6單片機,主要用于控制系統(tǒng)的測試流程、處理人機交互信息等。圍繞主控單元,本文還完成了延期時間測試模塊、電阻測試模塊、測試通道切換模塊、供電電源等功能模塊的硬件設(shè)計。軟件程序的設(shè)計采用了模塊化設(shè)計思路,主程序通過調(diào)用各種子程序來實現(xiàn)相應(yīng)的測試功能。子程序主要由系統(tǒng)預(yù)處理程序、電阻測量程序、測時程序、結(jié)果分析程序、數(shù)據(jù)顯示和數(shù)字相敏檢波程序等組成。本文重點對小電流激勵情況下低電阻測試精度低的問題進行了研究。首先對誤差源進行理論分析,并在此基礎(chǔ)上總結(jié)出關(guān)鍵誤差產(chǎn)生的機理及特性,然后尋求相應(yīng)的解決措施。針對低電阻測試中的直流誤差、溫漂等干擾因素,系統(tǒng)設(shè)計時采用了電流倒向測試法來消除定向直流誤差;采用低失調(diào)、低溫漂的運放來抑制失調(diào)電壓和漂移,測試結(jié)果表明該方案基本能夠滿足系統(tǒng)設(shè)計需求。此外,為了進一步提高低電阻的測試精度,本文還對鎖相放大器及其改進方案進行研究。首先在Simulink環(huán)境中搭建相應(yīng)的仿真模型對兩種鎖相放大器進行對比驗證,然后采用分段累加相關(guān)算法實現(xiàn)數(shù)字相敏檢波器,最后對已有硬件進行修改以完成改進型數(shù)字鎖相放大器的實現(xiàn)。測試結(jié)果表明采用以鎖相放大器為核心的低電阻測試方案能夠有效提升低電阻測試精度。
【圖文】：

確測量電子定時引信從接收充電脈沖到輸出點火脈沖的時間間隔。延期的方法如圖 3-1 所示，延期時間測量模塊由脈沖發(fā)生器、光耦隔離模塊測模塊和計時器組成。測試時點火脈沖的來源可以是脈沖發(fā)生器產(chǎn)生的可以是經(jīng)過光耦隔離后的外部傳感器信號。

3.2.1 恒壓源測電阻對于大電阻，本設(shè)計中采用恒壓源分壓法來進行測試。測試時，將待入有恒壓激勵源和標準電阻的測試回路中。測試電路具體如圖 3-2 所示。
【學(xué)位授予單位】：湘潭大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號】：TJ430.6

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本文編號：2653288