激光掃描法測量天文光學(xué)零件面形的研究
本文關(guān)鍵詞:激光掃描法測量天文光學(xué)零件面形的研究
更多相關(guān)文章: 非接觸式 自動化 粗磨檢測 曲面擬合 低成本
【摘要】:云南天文臺于2013年申請建立云南省應(yīng)用天文技術(shù)工程實驗室,現(xiàn)已獲批。在當(dāng)前亟待解決的關(guān)鍵技術(shù)問題中,對天文光學(xué)零件鏡面的面形檢測是一個重點。常用的檢測方法分為接觸式檢測和非接觸式檢測兩大類。目前工廠中通常使用接觸式球徑儀對光學(xué)鏡面進行粗磨檢測,這種測量方法雖然原理簡單,但是由于測量點有限,網(wǎng)格較粗,效率低下,而且因為是接觸式測量,所以不適合檢測晶體等表面較軟的鏡片,同時對于表面光潔度要求較高的鏡面也存在檢測困難。而非接觸式球徑儀市場價格又十分昂貴,在光學(xué)零件研磨初期并沒有很高的性價比。因此,研制出一套相對低成本、擴展性強、靈活度高的非接觸式自動化面形檢測系統(tǒng)實現(xiàn)球徑儀的功能,完成對光學(xué)鏡面的粗磨檢測是十分必要的。本系統(tǒng)硬件上采用KEYENCE LT-9031高精度激光測量儀、DANAHER ULTI-MAC-G型控制器及配套二維移動平臺和卓立漢光KSAV2030-ZF高精密電控垂直升降臺搭建,并基于STM32系列控制芯片設(shè)計制作了控制器完成指令分配和調(diào)度功能,利用串口通信控制x軸/y軸二維平移臺的運動實現(xiàn)網(wǎng)格掃描,基于激光掃描法測量面形弧高,但由于采用的共焦顯微鏡原理測量范圍較窄,添置了z軸升降臺擴大測量范圍,設(shè)計上位機控制程序和人機交互界面,使系統(tǒng)在后期使用更為靈活便捷,編寫了曲面擬合算法,最終實現(xiàn)光學(xué)零件面形數(shù)據(jù)的自動采集、擬合,以及相關(guān)光學(xué)參數(shù)的計算。通過實驗證明,無論待測光學(xué)零件的表面落差是否超出激光頭測量范圍,本文研究的非接觸式面形檢測系統(tǒng)均可完整采集所需面形數(shù)據(jù),并在曲面擬合后給出相關(guān)光學(xué)參數(shù)。該系統(tǒng)實現(xiàn)了軟硬件結(jié)合,能對多種光學(xué)零件面形進行一鍵式自動檢測,并能達到粗磨檢測的精度要求,并且成本較低,能滿足我實驗室工作的需要,也符合市場需求。
【關(guān)鍵詞】:非接觸式 自動化 粗磨檢測 曲面擬合 低成本
【學(xué)位授予單位】:中國科學(xué)院研究生院(云南天文臺)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號】:TH74;TG806
【目錄】:
- 摘要5-6
- Abstract6-10
- 第一章 緒論10-24
- 1.1 研究背景與意義10-11
- 1.2 國內(nèi)外面形檢測技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀11-22
- 1.2.1 接觸式檢測11-15
- 1.2.2 非接觸式檢測15-22
- 1.2.3 其他檢測方法22
- 1.3 主要工作和研究內(nèi)容22-24
- 1.3.1 主要研究工作22-23
- 1.3.2 論文內(nèi)容安排23-24
- 第二章 激光掃描法及其在系統(tǒng)中的應(yīng)用變形24-30
- 2.1 激光掃描法技術(shù)原理和分類24-28
- 2.1.1 平移法24-25
- 2.1.2 旋轉(zhuǎn)法25-26
- 2.1.3 平移旋轉(zhuǎn)法26-28
- 2.2 激光掃描共焦顯微鏡原理28-29
- 2.3 小結(jié)29-30
- 第三章 基于激光掃描法的面形檢測系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)30-52
- 3.1 激光測量儀系統(tǒng)30-37
- 3.1.1 激光感測頭32-33
- 3.1.2 激光掃描控制器33-37
- 3.2 平臺運動控制系統(tǒng)37-48
- 3.2.1 二維平移臺子系統(tǒng)37-42
- 3.2.2 垂直升降臺子系統(tǒng)42-48
- 3.3 調(diào)度控制器48-50
- 3.4 小結(jié)50-52
- 第四章 基于激光掃描法的面形檢測系統(tǒng)軟件設(shè)計52-62
- 4.1 自動測量方案52-54
- 4.2 調(diào)度控制器軟件設(shè)計54-55
- 4.3 PC上位機55-60
- 4.3.1 通信模塊56-57
- 4.3.2 參數(shù)設(shè)置模塊57-58
- 4.3.3 實時采樣模塊和數(shù)據(jù)處理模塊58-60
- 4.4 小結(jié)60-62
- 第五章 基于激光掃描法的面形檢測系統(tǒng)測試及誤差分析62-72
- 5.1 誤差分析及處理62-64
- 5.2 系統(tǒng)測試及數(shù)據(jù)分析64-70
- 5.3 小結(jié)70-72
- 第六章 結(jié)論與展望72-76
- 6.1 本文主要研究內(nèi)容72-73
- 6.2 未來工作73-76
- 參考文獻76-78
- 在學(xué)期間發(fā)表的論文與研究成果78-79
- 致謝79
【參考文獻】
中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條
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,本文編號:965235
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