本文關鍵詞：X熒光能譜法快速分析鈦合金中錫元素

  更多相關文章： 錫元素 X熒光能譜 鈦合金 成分分析

【摘要】：分析研究了鈦合金的能量色散X射線熒光光譜,使用XRF-6型X射線熒光能譜儀對鈦合金中錫元素進行了測定分析,結果表明X射線熒光能譜可有效的解決鈦合金中錫元素的快速分析問題。錫元素的Kα特征射線能量值為25.193KeV,Kβ特征射線能量值為28.601KeV,通過與基體鈦元素特征射線能量值的對比可以實現(xiàn)鈦合金中錫元素的快速定性及定量分析。
【作者單位】： 北京航空材料研究院;北京普析通用儀器有限責任公司;北京科隆宇技術發(fā)展有限責任公司;
【關鍵詞】： 錫元素 X熒光能譜 鈦合金 成分分析
【分類號】：TG115.33
【正文快照】： 能量色散X射線熒光分析是一種非破壞性多元素快速分析方法,理論上可分析周期表上從硼到鈾之間所有元素;分析速度快,分析濃度范圍寬,是無損檢測的重要方法,也是目前定性分析和定量分析的主要分析方法之一。X射線熒光能譜儀結構相對簡單,可以同時觀察和記錄X射線的全譜,非常適合，

本文編號：932676