四硼酸鋰坩堝內(nèi)預(yù)氧化熔融制樣-X射線熒光光譜法測定錳鐵及錳硅合金中的硅、錳、磷
發(fā)布時(shí)間：2017-09-11 07:08
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【摘要】：正X射線熒光光譜法(XRF)是一種適合于主量、次量及微量成分分析的方法。樣品制備是XRF分析的重要環(huán)節(jié)。固體樣品的制備可采用不改變樣品的微觀結(jié)構(gòu)直接磨光(b斯，
本文編號：829297
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