時間-電位法跟蹤磷化過程及溫度對磷化成膜的影響
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【摘要】:目前對磷化成膜機理及規(guī)律的認識受限于測試手段等因素,影響了工藝開發(fā)和理論探討。在工業(yè)鐵皮表面磷化成膜,采用電化學(xué)方法,通過開路電位-時間曲線,原位跟蹤了磷化成膜過程,用X射線衍射儀(XRD)對磷化過程不同階段的磷化膜成分進行了測試、分析;通過動電位極化曲線、硫酸銅點滴試驗和掃描電鏡(SEM)等研究了溫度對磷化成膜的影響;討論了磷化成膜的電化學(xué)機理。研究表明:開路電位-時間曲線中的反應(yīng)斜率、成膜時間等是研究磷化成膜過程的重要特征參數(shù);溫度對低常溫磷化成膜過程和膜層的耐蝕性能有顯著影響,推薦鐵基體低常溫磷化以35~45℃為佳。
【作者單位】: 鄭州大學(xué)化工與能源學(xué)院;鄭州博物館;
【關(guān)鍵詞】: 低常溫磷化 過程跟蹤 溫度與特征參數(shù) 耐蝕性 機理 工業(yè)鐵皮
【分類號】:TG174.4
【正文快照】: 0前言常溫磷化能耗低、工藝穩(wěn)定性好,已成為進一步研究開發(fā)的熱點技術(shù)[1],但目前對常溫磷化成膜規(guī)律的認識仍不清楚。隨著電化學(xué)測試技術(shù)的廣泛應(yīng)用,在金屬表面處理工藝和機理的研究方面不斷推出新的成果。電位-時間曲線屬電化學(xué)暫態(tài)測試技術(shù),可用于電極表面快速反應(yīng)的測試和
【相似文獻】
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本文編號:486463
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