球體表面缺陷檢測(cè)方法及關(guān)鍵技術(shù)研究
發(fā)布時(shí)間:2020-12-29 06:52
軸承球體的表面缺陷對(duì)軸承品質(zhì)有重要影響,它直接影響到軸承的使用壽命、精度和運(yùn)動(dòng)性能,因此對(duì)于球體表面缺陷的檢測(cè)是至關(guān)重要的。而傳統(tǒng)的人工檢測(cè)方法由于其效率低下、工人勞動(dòng)強(qiáng)度大等諸多劣勢(shì),已難以滿足市場(chǎng)對(duì)高品質(zhì)軸承的要求,故軸承球體表面缺陷檢測(cè)迫切需要一種高精度、高效率的球體自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備。光學(xué)測(cè)量具有很高的靈敏度和精度,是一種理想的超精密檢測(cè)手段;诖,本文搭建了適用于球體表面微小缺陷非接觸式檢測(cè)的實(shí)驗(yàn)平臺(tái),主要工作如下:(1)基于激光散射和剪切干涉原理,設(shè)計(jì)了適用于微小缺陷檢測(cè)的光路系統(tǒng),并設(shè)計(jì)和搭建了整個(gè)光路系統(tǒng)的機(jī)械架構(gòu)及光電信號(hào)采集系統(tǒng),通過(guò)對(duì)標(biāo)定板的重復(fù)性檢測(cè)實(shí)驗(yàn),驗(yàn)證了光路系統(tǒng)的檢測(cè)精度可以到達(dá)4μm。(2)分析了子午線形式和螺旋線形式展開(kāi)在均勻性檢測(cè)上的區(qū)別。研究了球體螺旋線展開(kāi)的條件。設(shè)計(jì)了球體展開(kāi)機(jī)構(gòu)及展開(kāi)機(jī)構(gòu)的驅(qū)動(dòng)系統(tǒng),搭建了球體展開(kāi)機(jī)構(gòu)運(yùn)動(dòng)平臺(tái)。(3)基于球體展開(kāi)運(yùn)動(dòng)學(xué)的分析,建立仿真模型,利用ADAMS仿真軟件仿真球體運(yùn)動(dòng)時(shí)檢測(cè)探頭的檢測(cè)軌跡。通過(guò)設(shè)定不同的仿真運(yùn)動(dòng)參數(shù),探究進(jìn)動(dòng)角速度以及自轉(zhuǎn)角速度對(duì)展開(kāi)軌跡的影響。研究得到,球體展開(kāi)最優(yōu)角速度的組合應(yīng)為進(jìn)動(dòng)角...
【文章來(lái)源】:浙江工業(yè)大學(xué)浙江省
【文章頁(yè)數(shù)】:82 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
高精度軸承球體[6]
第 2 章 軸承球體表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)測(cè),并且有效地檢測(cè)球體表面的各種微小缺陷,在一個(gè)裝置中設(shè)計(jì)于檢測(cè)表面缺陷的光路。,散射光路和剪切干涉光路在聚焦光路及部分接受光路上是完全相抑制由于光路本身造成的在兩種測(cè)量方法上的誤差。基于激光散射測(cè)光路系統(tǒng),主要包括偏振激光器,偏振片 1 和分光棱鏡 BS 設(shè)置方向。分光棱鏡的反射出光側(cè)依次布置 1/2 波片、渥氏棱鏡和物鏡的另一側(cè)為被測(cè)面;反射鏡布置于分光棱鏡的折射出光側(cè),反射鏡偏振片 2、匯聚鏡 2 以及用于接收剪切干涉檢測(cè)信號(hào)的光電探測(cè)光棱鏡、1/2 波片、渥氏棱鏡和物鏡位于同一光軸上。該光路系統(tǒng)聚鏡 1 位于反射鏡遠(yuǎn)離分光棱鏡的一側(cè),匯聚鏡 1 的出光方向與用的光電探測(cè)器 APD 一致,匯聚鏡 1 與分光棱鏡位于同一光軸上。
圖 2-6 前置放大電路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)及數(shù)據(jù)采集卡圖 2-7 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)功能框圖采集系統(tǒng)由數(shù)據(jù)采集卡、工控機(jī)、數(shù)據(jù)采集與處理軟件構(gòu)成。光電探測(cè)器模擬信號(hào),不能直接被計(jì)算機(jī)識(shí)別,所以必須通過(guò)數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行電壓采轉(zhuǎn)換。外界的光電信號(hào)由微光探測(cè)器接收信號(hào),該信號(hào)經(jīng)過(guò)采集卡的模擬
本文編號(hào):2945216
【文章來(lái)源】:浙江工業(yè)大學(xué)浙江省
【文章頁(yè)數(shù)】:82 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
高精度軸承球體[6]
第 2 章 軸承球體表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)測(cè),并且有效地檢測(cè)球體表面的各種微小缺陷,在一個(gè)裝置中設(shè)計(jì)于檢測(cè)表面缺陷的光路。,散射光路和剪切干涉光路在聚焦光路及部分接受光路上是完全相抑制由于光路本身造成的在兩種測(cè)量方法上的誤差。基于激光散射測(cè)光路系統(tǒng),主要包括偏振激光器,偏振片 1 和分光棱鏡 BS 設(shè)置方向。分光棱鏡的反射出光側(cè)依次布置 1/2 波片、渥氏棱鏡和物鏡的另一側(cè)為被測(cè)面;反射鏡布置于分光棱鏡的折射出光側(cè),反射鏡偏振片 2、匯聚鏡 2 以及用于接收剪切干涉檢測(cè)信號(hào)的光電探測(cè)光棱鏡、1/2 波片、渥氏棱鏡和物鏡位于同一光軸上。該光路系統(tǒng)聚鏡 1 位于反射鏡遠(yuǎn)離分光棱鏡的一側(cè),匯聚鏡 1 的出光方向與用的光電探測(cè)器 APD 一致,匯聚鏡 1 與分光棱鏡位于同一光軸上。
圖 2-6 前置放大電路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)及數(shù)據(jù)采集卡圖 2-7 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)功能框圖采集系統(tǒng)由數(shù)據(jù)采集卡、工控機(jī)、數(shù)據(jù)采集與處理軟件構(gòu)成。光電探測(cè)器模擬信號(hào),不能直接被計(jì)算機(jī)識(shí)別,所以必須通過(guò)數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行電壓采轉(zhuǎn)換。外界的光電信號(hào)由微光探測(cè)器接收信號(hào),該信號(hào)經(jīng)過(guò)采集卡的模擬
本文編號(hào):2945216
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