考慮晶粒結(jié)構(gòu)的無鉛焊點(diǎn)電遷移失效研究
【學(xué)位授予單位】:浙江工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號(hào)】:TG40
【圖文】:
圖 1-1 三級(jí)微電子封裝示意圖如圖 1-2 是電子風(fēng)力驅(qū)動(dòng)作用示意圖。電子在電場(chǎng)的作用下沿著電子流方向運(yùn)的同時(shí)高速流動(dòng)的電子會(huì)撞擊合金焊料中的金屬原子,原子被撞擊離開原本的空穴。圖 1-2 所示windF 代表與電子運(yùn)動(dòng)風(fēng)向同向的電子風(fēng)力;directF 代表電場(chǎng)直金屬原子而產(chǎn)生的力,其方向與電子流動(dòng)的方向相反。
圖 1-1 三級(jí)微電子封裝示意圖圖 1-2 是電子風(fēng)力驅(qū)動(dòng)作用示意圖。電子在電場(chǎng)的作用下沿著電子流方向同時(shí)高速流動(dòng)的電子會(huì)撞擊合金焊料中的金屬原子,原子被撞擊離開原本穴。圖 1-2 所示windF 代表與電子運(yùn)動(dòng)風(fēng)向同向的電子風(fēng)力;directF 代表電場(chǎng)屬原子而產(chǎn)生的力,其方向與電子流動(dòng)的方向相反。
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本文編號(hào):2721714
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