本文選題：集中質(zhì)量 + 基頻��； 參考：《西安工業(yè)大學(xué)學(xué)報》2016年12期

【摘要】：為了改善三維模擬測頭的響應(yīng)特性及其動態(tài)穩(wěn)定性,對三維模擬測頭進行了基頻分析.將模擬測頭的各主要組成部件簡化為集中質(zhì)量模型,采用模態(tài)分析方法分析了工作基頻對響應(yīng)特性及測量精度的影響.通過集中質(zhì)量分布位置及其影響敏度分析,結(jié)果表明:集中質(zhì)量及其位置對于測頭系統(tǒng)基頻的影響呈非線性關(guān)系.以集中質(zhì)量為約束條件的頻率響應(yīng)特性分析可有效提高模擬測頭動態(tài)性能及測量精度,為提高模擬測頭測量精度及動態(tài)性能提供了新途徑.
[Abstract]:In order to improve the response characteristics and dynamic stability of 3D analog probe, the fundamental frequency of 3D analog probe is analyzed. The main components of the simulated probe are simplified into a lumped mass model, and the effect of the working fundamental frequency on the response characteristics and measurement accuracy is analyzed by modal analysis method. By analyzing the location of mass distribution and its influence sensitivity, the results show that the influence of lumped mass and its position on the fundamental frequency of probe system is nonlinear. The analysis of frequency response characteristics with lumped mass as constraint condition can effectively improve the dynamic performance and accuracy of analog probe, and provide a new way to improve the measurement accuracy and dynamic performance of analog probe.
【作者單位】： 西安工業(yè)大學(xué)機電工程學(xué)院;西安建筑科技大學(xué)機電工程學(xué)院;
【基金】：陜西省教育廳重點實驗室科研計劃項目(2015JS043)
【分類號】：TG806

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本文編號：1876558