超聲紅外熱像中激勵源位置對裂紋生熱的影響
本文選題:激勵源位置 + 裂紋生熱; 參考:《紅外與激光工程》2017年01期
【摘要】:超聲紅外熱像技術(shù)是一種新型無損檢測技術(shù),裂紋生熱效果直接決定了裂紋的可檢測性,而激勵源位置是影響裂紋生熱的因素之一。針對激勵源位置對裂紋生熱影響不清楚的問題,建立了超聲換能器與被測金屬平板的有限元模型,并搭建了超聲紅外熱像檢測系統(tǒng);研究了不同激勵源位置時裂紋的生熱特性;并利用等效摩擦力、等效速度以及等效熱流進(jìn)行了有效驗(yàn)證。研究表明:當(dāng)激勵源位于裂紋面正下方時,由于裂紋面兩側(cè)振動同步,裂紋生熱效果將受到抑制;而隨著激勵源位置向兩側(cè)移動,裂紋生熱呈現(xiàn)出先波動上升后波動下降的趨勢,而且預(yù)緊力越大波動越劇烈。研究成果有效地揭示了激勵源位置對裂紋生熱的影響規(guī)律,為超聲紅外熱像技術(shù)的檢測優(yōu)化奠定了理論基礎(chǔ)。
[Abstract]:Ultrasonic infrared thermal imaging technology is a new nondestructive testing technology. The heat generation effect of cracks directly determines the detectability of cracks, and the location of excitation source is one of the factors that affect the heat generation of cracks. The finite element model of ultrasonic transducer and metal plate is established, and the ultrasonic infrared thermal image detection system is set up, and the heat generation characteristics of crack under different excitation source positions are studied, aiming at the problem that the influence of excitation source location on crack heat generation is not clear, and the finite element model of ultrasonic transducer and metal plate is established, and the ultrasonic infrared thermal image detection system is set up. The equivalent friction force, the equivalent velocity and the equivalent heat flux are used to verify effectively. The results show that when the excitation source is located directly below the crack surface, the thermal effect of the crack will be restrained due to the simultaneous vibration of the two sides of the crack surface, and the heat generation effect of the crack will be restrained with the excitation source moving to the two sides. The heat generation of cracks shows a trend of first fluctuation rising and then decreasing, and the larger the preloading force is, the more violent the fluctuation is. The research results reveal the effect of excitation source location on crack heat generation and lay a theoretical foundation for the detection and optimization of ultrasonic infrared thermal imaging technology.
【作者單位】: 裝甲兵工程學(xué)院機(jī)械工程系;
【基金】:軍內(nèi)計(jì)劃科研項(xiàng)目
【分類號】:TG115.28
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【共引文獻(xiàn)】
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【二級參考文獻(xiàn)】
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,本文編號:1868075
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