本文關(guān)鍵詞：一種TiAl合金高溫低循環(huán)疲勞性能及失效機(jī)理　出處：《航空材料學(xué)報(bào)》2017年05期 　論文類型：期刊論文

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【摘要】：通過對(duì)TiAl合金進(jìn)行總應(yīng)變范圍控制的高溫(750℃)低循環(huán)疲勞實(shí)驗(yàn),研究雙態(tài)(Duplex,DP)和全片層(Fully Lamellar,FL)組織形態(tài)對(duì)TiAl合金低循環(huán)疲勞性能和壽命的影響,并采用總應(yīng)變幅-壽命方程對(duì)兩類組態(tài)TiAl合金低循環(huán)疲勞壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)。結(jié)果表明:在相同溫度和應(yīng)變條件下,DP組態(tài)TiAl合金穩(wěn)態(tài)遲滯回線對(duì)應(yīng)的平均應(yīng)力明顯低于FL組態(tài)TiAl合金穩(wěn)態(tài)遲滯回線對(duì)應(yīng)的平均應(yīng)力;采用總應(yīng)變幅-疲勞壽命方程能夠準(zhǔn)確預(yù)測(cè)兩種組態(tài)TiAl合金在750℃下的疲勞壽命,預(yù)測(cè)壽命基本位于試驗(yàn)壽命的±2倍分散帶以內(nèi);另外,DP組態(tài)TiAl合金的疲勞源區(qū)位于試樣的近心部,而FL組態(tài)TiAl合金的疲勞源區(qū)位于試樣的次表面,兩類組態(tài)TiAl合金的高溫疲勞失效機(jī)理存在明顯差異。
[Abstract]:The effects of duplex ( Duplex , DP ) and full Lamellar ( FL ) on the low cycle fatigue life of TiAl alloy were studied by high temperature ( 750 鈩，

本文編號(hào)：1439902