發(fā)布時間：2018-01-18 06:40

  本文關鍵詞：一種TiAl合金高溫低循環(huán)疲勞性能及失效機理　出處：《航空材料學報》2017年05期 　論文類型：期刊論文

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【摘要】：通過對TiAl合金進行總應變范圍控制的高溫(750℃)低循環(huán)疲勞實驗,研究雙態(tài)(Duplex,DP)和全片層(Fully Lamellar,FL)組織形態(tài)對TiAl合金低循環(huán)疲勞性能和壽命的影響,并采用總應變幅-壽命方程對兩類組態(tài)TiAl合金低循環(huán)疲勞壽命進行預測。結果表明:在相同溫度和應變條件下,DP組態(tài)TiAl合金穩(wěn)態(tài)遲滯回線對應的平均應力明顯低于FL組態(tài)TiAl合金穩(wěn)態(tài)遲滯回線對應的平均應力;采用總應變幅-疲勞壽命方程能夠準確預測兩種組態(tài)TiAl合金在750℃下的疲勞壽命,預測壽命基本位于試驗壽命的±2倍分散帶以內(nèi);另外,DP組態(tài)TiAl合金的疲勞源區(qū)位于試樣的近心部,而FL組態(tài)TiAl合金的疲勞源區(qū)位于試樣的次表面,兩類組態(tài)TiAl合金的高溫疲勞失效機理存在明顯差異。
[Abstract]:The effects of duplex ( Duplex , DP ) and full Lamellar ( FL ) on the low cycle fatigue life of TiAl alloy were studied by high temperature ( 750 鈩，

本文編號：1439902