基于殼聚糖多孔碳的制備及電容性能研究
發(fā)布時間:2023-09-28 21:46
以殼聚糖為碳源和氮源,采用預(yù)碳化處理和KOH活化兩步法制備了殼聚糖多孔碳材料,考察了活化劑KOH用量對電極材料形貌、結(jié)構(gòu)以及電容性能的影響。結(jié)果表明:當(dāng)KOH與預(yù)碳化殼聚糖質(zhì)量比為0.6∶1時,制備的多孔碳材料KOH-CTS-0.6具有最優(yōu)的電化學(xué)性能。KOH-CTS-0.6具有大比表面積(1 348 m2·g-1),含有豐富的N、O元素(2.9%N和7.4%O)。在電流密度為0.5 A·g-1時,KOH-CTS-0.6的比電容為235.2 F·g-1,顯示出優(yōu)秀的倍率能力;在電流密度為10 A·g-1的大電流時,其比電容依然高達(dá)178.6 F·g-1。此外,該材料還具有良好的循環(huán)穩(wěn)定性,500次循環(huán)后比電容保持率為94%。
【文章頁數(shù)】:7 頁
【文章目錄】:
1 實驗
1.1 試劑與儀器
1.2 殼聚糖多孔碳的制備
1.3 電極片的制備
1.4 電化學(xué)性能測試
2 結(jié)果與討論
2.1 殼聚糖多孔碳的Raman光譜分析(圖1)
2.2 殼聚糖多孔碳的表面形貌分析
2.3 殼聚糖多孔碳的XRD分析
2.4 殼聚糖多孔碳的XPS分析(圖4)
2.5 殼聚糖多孔碳的N2吸附孔結(jié)構(gòu)分析
2.6 殼聚糖多孔碳的電化學(xué)性能分析
2.6.1 CV曲線分析
2.6.2 充放電性能分析
2.6.3 比電容及循環(huán)穩(wěn)定性
2.6.4 EIS分析
3 結(jié)論
本文編號:3848655
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1 實驗
1.1 試劑與儀器
1.2 殼聚糖多孔碳的制備
1.3 電極片的制備
1.4 電化學(xué)性能測試
2 結(jié)果與討論
2.1 殼聚糖多孔碳的Raman光譜分析(圖1)
2.2 殼聚糖多孔碳的表面形貌分析
2.3 殼聚糖多孔碳的XRD分析
2.4 殼聚糖多孔碳的XPS分析(圖4)
2.5 殼聚糖多孔碳的N2吸附孔結(jié)構(gòu)分析
2.6 殼聚糖多孔碳的電化學(xué)性能分析
2.6.1 CV曲線分析
2.6.2 充放電性能分析
2.6.3 比電容及循環(huán)穩(wěn)定性
2.6.4 EIS分析
3 結(jié)論
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