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氣-熱液反應(yīng)技術(shù)制備硫化鎳及電催化性能研究

發(fā)布時間:2018-06-04 18:37

  本文選題:Hot-bubbling法 + 硫化鎳納米晶 ; 參考:《化工新型材料》2017年08期


【摘要】:以乙酰丙酮鎳(NiC_(10)H_(14)O_4)為鎳源,硫化氫(H2S)為硫源,采用氣-熱液反應(yīng)技術(shù)(Hot-bubbling)制得硫化鎳(NiS)納米晶。將NiS納米晶修飾到玻碳電極上,并對NiS納米晶的電催化性能進(jìn)行了研究。采用掃描電子顯微鏡(SEM)、X射線衍射(XRD)、透射電子顯微鏡-能量分散光譜(TEM-EDX)分別對NiS納米晶的形貌、尺寸及結(jié)構(gòu)等進(jìn)行了表征。利用線性掃描伏安法、循環(huán)伏安法,交流阻抗等電化學(xué)技術(shù)對材料在酸性條件下對水的電化學(xué)析氫性能進(jìn)行研究。結(jié)果表明:采用Hot-bubbling法制得的NiS納米晶結(jié)晶度高,雙電層為28.8mF/cm~2,表明修飾后電極有較大的表面積,在0.5mol稀硫酸電解質(zhì)溶液中,塔菲爾(tafel)斜率為42.7283mV/dec,有較好的電析氫催化效果。
[Abstract]:The morphology , size and structure of NiS nanocrystals were studied by means of scanning electron microscopy ( SEM ) , X - ray diffraction ( XRD ) and transmission electron microscopy ( TEM - EDX ) . The results showed that the morphology , size and structure of NiS nanocrystals were investigated by scanning electron microscopy ( SEM ) , X - ray diffraction ( XRD ) and transmission electron microscopy ( TEM - EDX ) .
【作者單位】: 合肥工業(yè)大學(xué)化學(xué)與化工學(xué)院;
【基金】:安徽省杰出青年基金(J2014AKYQ0041)
【分類號】:TQ138.13

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本文編號:1978441

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