線陣CCD亞像元超分辨率重建方法研究
本文關(guān)鍵詞:線陣CCD亞像元超分辨率重建方法研究,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
【摘要】:人類文明的發(fā)展已經(jīng)進(jìn)入了信息化時(shí)代,人類活動(dòng)中地理和空間信息占據(jù)總信息的80%,遙感技術(shù)獲取信息高效、快速,各個(gè)國(guó)家和企業(yè)都在大力發(fā)展遙感技術(shù),研究高分辨率的遙感圖像是遙感技術(shù)中的核心和熱點(diǎn)內(nèi)容。純硬件、純軟件的方法都不能非常有效的提高圖像分辨率。將軟、硬件方法相結(jié)合,發(fā)展起來的亞像元超分辨率成像技術(shù)可以低成本實(shí)現(xiàn)高分辨率圖像獲取的需求。本文分析了多種亞像元高分辨率重構(gòu)采樣模式,并實(shí)驗(yàn)?zāi)M采樣過程和圖像重建過程,從硬件條件、效率、成本等多角度分析多種亞像元超分辨率重構(gòu)采樣模式。介紹了實(shí)現(xiàn)超模式采樣,即亞像元采樣模式中兩個(gè)探測(cè)器錯(cuò)開半個(gè)像元的技術(shù)方法。針對(duì)超模式采樣,分析了多種傳統(tǒng)的亞像元圖像超分辨率重建方法的特點(diǎn)。針對(duì)傳統(tǒng)的重建方法中存在的邊緣鋸齒現(xiàn)象,提出了全插值的亞像元重建方法,實(shí)驗(yàn)結(jié)果驗(yàn)證了該方法的有效性。在全插值亞像元重建方法的思想基礎(chǔ)上,將其與雙線性插值、B樣條插值和邊緣檢測(cè)結(jié)合,提出了三種改進(jìn)的全插值亞像元超分辨率重建方法。從人眼主觀視覺、客觀的質(zhì)量評(píng)價(jià)參數(shù)和時(shí)間復(fù)雜度三個(gè)方面分析了不同的重建方法的優(yōu)缺點(diǎn)并分析了其產(chǎn)生原因。利用某二值圖像、細(xì)節(jié)圖像和遙感圖像,進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)?zāi)M。結(jié)果表明,本文所提出的全插值法、改進(jìn)的全插值法能夠有效的提高亞像元重建圖像的質(zhì)量。相對(duì)傳統(tǒng)的重建方法,本文所提出的方法處理的更加快速有效。
【關(guān)鍵詞】:亞像元成像技術(shù) 超分辨率重建 全插值法 超模式采樣
【學(xué)位授予單位】:中國(guó)科學(xué)院研究生院(西安光學(xué)精密機(jī)械研究所)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號(hào)】:P237
【目錄】:
- 致謝4-5
- 摘要5-6
- ABSTRACT6-10
- 第一章 引言10-18
- 1.1 課題研究背景與意義10-13
- 1.2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀13-16
- 1.2.1 國(guó)外研究現(xiàn)狀13-15
- 1.2.2 國(guó)內(nèi)研究現(xiàn)狀15-16
- 1.3 應(yīng)用前景16
- 1.4 論文研究?jī)?nèi)容和結(jié)構(gòu)安排16-18
- 第二章 線陣CCD亞像元成像技術(shù)18-46
- 2.1 遙感圖像成像模型18-20
- 2.2 采樣定理20-24
- 2.3 分辨率的影響因素24-27
- 2.3.1 光學(xué)系統(tǒng)分辨率25
- 2.3.2 探測(cè)器分辨率25-26
- 2.3.3 其他因素26-27
- 2.4 提高分辨率的方法27-30
- 2.4.1 純硬件方法27-29
- 2.4.2 純軟件方法29
- 2.4.3 軟硬結(jié)合的方法29-30
- 2.5 線陣CCD亞像元采樣模式30-41
- 2.5.1 超模式采樣30-33
- 2.5.2 高模式采樣33-35
- 2.5.3 推掃減速采樣模式35-36
- 2.5.4 斜模式采樣36-40
- 2.5.5 其它亞像元采樣模式40-41
- 2.6 不同采樣模式分析41-43
- 2.7 實(shí)現(xiàn)亞像元錯(cuò)位的技術(shù)途徑43-44
- 2.8 本章小結(jié)44-46
- 第三章 亞像元超分辨率重建方法研究46-60
- 3.1 超分辨率重建算法概述46
- 3.2 亞像元重建基本原理46-47
- 3.3 傳統(tǒng)的亞像元重建方法47-53
- 3.3.1 最近鄰插值48
- 3.3.2 雙線性插值48-50
- 3.3.3 三次B樣條曲線插值50-52
- 3.3.4 三次B樣條曲面插值52-53
- 3.4 本文方法53-58
- 3.4.1 全插值法53-54
- 3.4.2 全插值法結(jié)合雙線性插值54-55
- 3.4.3 全插值法結(jié)合B樣條插值55-56
- 3.4.4 邊緣自適應(yīng)的全插值法56-58
- 3.5 本章小結(jié)58-60
- 第四章 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析60-76
- 4.1 圖像質(zhì)量評(píng)價(jià)概述60-61
- 4.2 亞像元圖像質(zhì)量評(píng)價(jià)參數(shù)61-64
- 4.3 亞像元成像方法評(píng)價(jià)與分析64-75
- 4.3.1 二值圖像64-67
- 4.3.2 細(xì)節(jié)圖像67-71
- 4.3.3 遙感圖像71-75
- 4.4 本章小結(jié)75-76
- 總結(jié)與展望76-78
- 參考文獻(xiàn)78-82
- 作者在學(xué)期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文與研究成果82
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本文關(guān)鍵詞:線陣CCD亞像元超分辨率重建方法研究,,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
本文編號(hào):404959
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